MarSurf XR 20，表面度量的选项。
该计算机仪器根据国际标准为测量室或生产提供所有常见表面参数和轮廓。强大的 MarSurf XR 20 将数十年的表面度量经验与创新技术、方便阅读的图标和用户友好的操作员助手结合。
结合 GD 120 驱动装置可有 120 mm 采样长度。
除表面粗糙度评估之外，也可以此方式执行轮廓和波纹度评估。
- 超过 100 种符合 ISO / JIS、ASME 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓
- 所有表面参数的公差监控和统计
- 快速创建 Quick&Easy 测量程序的 Teach-in 方法
- 全面的测量记录
- 根据标准选择滤波和扫描长度的自动功能
- 通过设置 Ra 或 Rz 参数支持各种校准方法（静态/动态）
- 可调维护和校准间隔
- 快速熟悉操作原理的模拟模式
- 多种测量站配置可使用自定义应用
测量原则 | 探针法 |
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输入 | R 测头，MFW 250 B |
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测量范围 mm | MFW 250: ±25 ?m，±250 ?m，（高达 ±750 ?m）； ±1000 ?英寸，±10,000 ?英寸（高达 ±30,000 ?英寸） |
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过滤器符合 ISO/JIS 标准 | ISO 11562 标准高斯滤波，ISO 16610-21/ISO 16610-31 标准滤波 |
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扫描长度（文本） | 自动；0.56 mm；1.75 mm；5.6 mm；17.5 mm，56 mm*，
测量至挡块，可变
* 扫描长度取决于驱动装置 |
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采样长度数量符合 ISO/JIS | 1 至 50（默认：5） |
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表面参数 | 超过 100 种符合当前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的
表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓 |
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可选：- MarSurf ST 750 测量立柱
- 手动控制面板带操纵杆和显示器
- 平行虎钳
- V 形块
- 设备工作台
- 减振系统
- 测量柜
常规软件选项：- MarWin 主波纹度选项 (WDc)
- ISO 13565-3 表面参数选项
- QS-STAT / QS-STAT Plus 选项
- 轮廓处理选项
- 用户自定义参数选项
- MarSurf XR 1 / XR 20 选项轮廓 1
- 拓扑选项
- MarSurf XR 20 包含计算机、MidRange Standard、XR 20 软件和 Mahr 许可密钥
- TFT 显示器
- MarSurf GD 120 驱动单元
- MFW 250 B 测头系统组
- MarSurf ST 500 测量立柱
- PGN-3 校准标准器
- MCP 23 手动控制面板
- CT 300 XY 工作台
