在测量站使用 MarSurf XCR 20 测量粗糙度和轮廓
这个综合的测量站可在一台测量站上同时执行表面粗糙度和
轮廓测量。
根据测量任务，可使用 GD 25 驱动装置进行表面粗糙度测量，或使用 PCV 驱动装置进行轮廓测量。
两个测量系统通过组合支架固定到测量立柱。
- 节省空间型设计：两个驱动装置可使用相应的组装支架安装到 MarSurf ST 500 或 ST 750 测量立柱
- 一次测量即可完成粗糙度和轮廓评估
- 使用 MarSurf LD 130 / LD 260 测量系统对组件进行高精密度轮廓和粗糙度评估需要长行程和*的分辨率
- 只需在软件平台内进行切换并更换驱动装置和测头等机械组件即可快速更换粗糙度和轮廓测量
接触速度（Z 方向） | 0.1 至 1 mm/s |
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测杆长度 | 175 mm, 350 mm |
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测量速度（文本） | 0.2 mm/s 至 4 mm/s |
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针尖半径 | 25 |
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扫描长度末尾（X 方向） | 200 mm |
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分辨率 | Z 方向，相对探针针头：
0.38 µm（350 mm 测杆）/ 0.19 µm（175 mm 测杆） Z 方向，相对测量系统：
0.04 µm |
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扫描长度开始（X 方向） | 0.2 mm |
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取样角 | 在平滑表面上，取决于偏差：
后缘高至 88°，前缘高至 77° |
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定位速度（文本） | X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s
Z 方向：0.2 至 10 mm/s |
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导块偏差 | < 1 µm（200 mm 以上） |
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测量原则 | 探针法 |
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输入 | R 测头，MFW 250
光学测头 Focodyn*、LS 1*、LS 10*
（*仅结合 PGK 或 GD 120 CNC 驱动装置） |
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测量范围 mm | (in Z) 50 mm
MFW 250: ±25 µm，±250 µm，（ ±750 µm）；±1000 µin，±10,000 µin（ ±30,000 µm） |
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扫描长度（文本） | 自动；0.56 mm；1.75 mm；5.6 mm；17.5 mm，56 mm，
（.022 / .070 / .224 / .700 / 2.240 英寸），
测量至挡块，可变 |
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采样长度数量符合 ISO/JIS | 1 至 50（默认：5） |
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测量力 (N) | 1 mN 至 120 mN 左右
（可在 MarSurf XC 20 中设置） |
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可选：- MarSurf ST 750 测量立柱
- 平行虎钳
- 设备工作台
软件选项：- 轮廓处理选项
- 主波纹度选项
- 用户定义参数
- 拓扑选项
- QS-STAT / QS-STAT Plus 选项
- 螺纹评定选项
- 将测量站与一个测量支架和两个驱动装置结合（PCV 200 和 MarSurf GD 25）
- 将测量站与快速更换支架结合 (GD 120, PCV 20)
- MarSurf LD 130 / 260 用于对组件进行精密轮廓和粗糙度评估
- MarSurf XCR 20 包含计算机、MidRange Standard、MarSurf XCR 20 软件、Mahr 许可密钥
- TFT 显示器
- MarSurf PCV 200 / MarSurf GD 25 驱动装置
- MarSurf ST 500 测量立柱包含组装支架
- 校准套件，PGN-3
- MCP 21 手动控制面板
- CT 300 XY 工作台
