雷达物位计知识介绍
时间:2013-08-07 阅读:2087
雷达物位计原理:雷达物位计天线发射极窄的微波脉冲,这个脉冲以光速在空间传播,碰到被测介质表面,其部分能量被反射回来,被同一天线接收。发射脉冲与接收脉冲的时间间隔与天线到被测介质表面的距离成正比。由于电磁波的传播速度*,发射脉冲与接受脉冲的时间间隔很小(纳秒量级)很难确认。UPR系列雷达物位计采用一种特殊的相关解调技术,可以准确识别发射脉冲与接收脉冲的时间间隔,从而进一步计算出天线。
雷达物位计适用于各种过程条件复杂的容器、储罐、仓料等物位测量,适用于对液体、浆料、颗粒以及粉尘的物位进行接触式连续测量,特别是应用在有粉尘、以及有挥发性物质存在的复杂环境下,且不受被测介质物理特性变化的影响。
雷达物位计优势:
1、定向传播,维护方便,操作简单:雷达物位计具有故障报警及自诊断功能。
2、准光学特性,适用范围广:非接触式测量,方向性好,传输损耗小,可测介质多。
3、传输特性好,脉冲雷达的工作模式与超声物位计相似:天线周期地发射微波脉冲,并接收物料面回波,同时对回波信号进行分析处理,确认有效回波,据之计算物位。
4、介质对微波吸收与介质的介电常数成比例, 连续准确测量:由于雷达物位计不与被测介质接触,且受温度、压力、气体等影响非常小。