采购HPE6607B综合测试仪

E6607B EXT主要特性与技术指标

预测您的无线设备制造测试需求

得益于针对下一代低成本非信令测试而进行优化的体系结构

根据LTE TDD/FDD、HSPA+、W-CDMA、1xEV-DO、cdma2000®、GSM、EDGE-Evo、TD-SCDMA、WiMAXTM、蓝牙®、GPS/GNSS等技术的需要，添加多制式、基于标准的校正和验证测试支持

确保您的测试系统具备现代化、可扩展的体系结构，以满足未来需求

加快测试开发

采购HPE6607B综合测试仪

利用业经验证的X系列分析仪测量科学，以确保从NPI到生产流程的无缝过渡

使用Signal Studio软件简化信号生成，以便对您的无线设备进行同步、控制与测试

使用Sequence Studio软件的图形界面简化测试计划的创建与故障诊断

使用芯片组软件优化器件的校准与验证，以便缩短批量制造时间

实现快速、精确的测量

为现代芯片组提供快速序列非信令测试模式，以便zui大程度地提高吞吐量

利用单次采集多项测量技术加快序列分析仪模式中的测试计划

利用出色的测量精度提高产出率

经济高效的 E6617A多端口适配器具有计量级精度和平衡

技术指标

10～3800 MHz频率范围适用于全部蜂窝频带范围（包括LTE TDD频带43）

-110～+10 dBm输出电平范围，带有调制

VSWR <1.2:1 10～2400 MHz

典型测量精度< +/-0.3 dB