VA-70NIR 锥光成像分析仪 特性

● VA-70NIR锥光成像仪配置了2500万像素分辨率探测器，搭载±70°大视角锥光镜头，可测量500-1100nm波长范围的发射器的辐射强度的角度分布，完整的提供了整个视角范围内准确、快速的测量结果 。

● ProICM测试软件提供直观的系统设置和数据分析，包括2D图形、等距图、雷达图等图形分析功能。

● 通过内置图像缓冲内存以及千兆网接口实现高速测量和数据传输。

● 通过选配的滤光片轮可轻松实现多波长的检测。

VA-70NIR 锥光成像分析仪 应用

● 人脸识别传感器

● 3D传感器

● TOF结构光激光器

● VCSEL

● 近红外发射器

VA-70NIR 锥光成像分析仪 规格

*   规格参数与外观有可能在没有预先通知的情况下予以变更，恕不另行通知。