差热分析仪

差热分析仪/差示扫描量热仪产品介绍:

AO-CR3320A在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。

差热分析仪/差示扫描量热仪差热分析仪特点：

1.仪器主控芯片采用Cortex-M3内核ARM控制器，运算处理速度更快，温度控制更精确。

2.采用USB双向通讯，操作更便捷。

3.采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏，界面更友好。

4.采用镍铬合金传感器，更耐高温、抗腐蚀、抗氧化。

差热分析仪/差示扫描量热仪差热分析仪技术参数: 

1. 温度范围: 室温~1150℃  

2. 量程范围: 0～±2000μV   

3. DTA精度: 0.01μV  

4. 升温速率: 1～80℃/min  

5. 温度分辨率: 0.1℃  

6. 温度准确度: ±0.1℃  

7. 温度重复性: ±0.1℃   

8. 温度控制: 升温：程序控制  可根据需要进行参数的调整

           恒温：程序控制  恒温时间任意设定

9. 炉体结构: 炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作

10.气氛控制: 内部程序自动切换

11.数据接口: 标准USB接口  配套数据线和操作软件

12.显示方式: 24bit色 7寸 LCD触摸屏显示

13.参数标准: 配有标准物，带有一键校准功能，用户可自行对温度进行校正

14.基线调整: 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线

15.工作电源: AC 220V  50Hz