平均粒度测定仪

AOD-WLP208平均粒度测定仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2017-01-22 14:03:30
2345
产品属性
关闭
北京爱欧德仪器设备有限公司

北京爱欧德仪器设备有限公司

初级会员8
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

AOD-WLP208平均粒度测定仪:该仪器是在WLP-205仪器基础上增加了一套压力校正器。在测试中采用该校正器可使粉料很容易的压紧到规定的压力上(通用50磅力·吋即22.7kgf·cm)

详细介绍

AOD-WLP208平均粒度测定仪:该仪器是在WLP-205仪器基础上增加了一套压力校正器。在测试中采用该校正器可使粉料很容易的压紧到规定的压力上(通用50磅力·吋即22.7kgf·cm),从而使测试更加简便、性能稳定、重复性好,其他主要技术指标与WLP-205型平均粒度测定仪相同。
  主要技术指标
  1、粒度测量范围:0.2μm(微米)─50μm(微米)
  2、孔隙度范围:0.25-0.40、0.40-0.80、0.80-0.95
  3、精度:3%
  4、工作环境:相对湿度不大于80%,温度:25±10℃
  5、电源:∽220±22v50-60Hz
  6、功率:30w
  7、重量:28Kg
  8、外型尺寸:735×414×244mm3

上一篇:粉体粒度测试系统的正确使用方法指南 下一篇:颗粒图像分析仪的工作原理及应用
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话: