韩国XRF-2000X射线镀层测厚仪,X荧光无损测厚仪,X-RAY膜厚仪,电镀测厚仪 

X射线镀层测厚仪,测量电镀层厚度,测量电镀或化学镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀锡,镀铜,镀锌镍合金等.

机器配置

全自动台面

自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度不超过4cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围：0.04－35um

可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
每层镀层都可分开显示各自厚度.
测量时间：10－30秒

测量功能:单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层

精度控制：
      *层：±5%以内
      第二层：±8%以内
      第三层：±12%以内

XRF2000电镀镀层测厚仪/电镀膜厚测试仪

XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能*,而且价钱*
同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，
可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的*。可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U）  原子序 22 – 92
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
电脑系统：液晶显示器，彩色打印机
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能