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X射线膜厚测量仪

时间:2014-06-04      阅读:1820

  X射线镀层测厚仪原理是根据X荧光穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测镀层所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为信号,经过放大器放大,再由镀层测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度值。
  
  X射线源强度的大小,与X射线管的发射强度和被测钢板所吸收的X射线强度相关。一个在系统强度范围内的给定厚度,为了确定其所需的X射线能量值,可利用X射线标准片进行校准。在检测任何产品镀层时,系统将设定X射线的标准程序,使检测能够顺利完成。
  
  韩国MicroPioneer(先锋)X射线镀层测厚仪
  
  XRF-2000镀层测厚仪共分三种型号
  
  不同型号各种功能一样
  
  机箱容纳样品大小有以下不同要求
  
  XRF-2000镀层测厚仪型号介绍
  
  XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm
  
  XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm
  
  XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm(开放式设计,可检测大型样品
  
  韩国先锋XRF2000镀层测厚仪(*)
  
  检测电子及五金电镀,化学电镀层厚度
  
  主要检测:镀金,镀银,镀镍,镀铜,镀锌,镀锡,及各种合金镀层等
  
  韩国XRF2000镀层测厚仪
  
  全自动台面
  
  自动雷射对焦
  
  多点自动测量(方便操作人员准确快捷检测样品)
  
  测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)
  
  镀层厚度测试范围:0.03-35um
  
  可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度
  
  (单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等)
  
  (双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再银,铁上镀铜再镀镍等)
  
  多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍,再镀金等)
  
  合金镀层:如铁上镀锡铜等
  
  测量时间:10-30秒
  
  精度控制:
  
  *层:±5%以内
  
  第二层:±8%以内
  
  第三层:±12%以内
  
  XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能*,而且价钱*
  
  同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
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