-
X射线荧光分析仪EA1000AIII
X射线荧光分析仪EA1000AIIIEA1000AIIIX射线荧光分析仪通过将可选项的精度管理型软件进一步升级,并使之成为标准配备，实现了低价格化 参考价面议 -
X射线荧光分析仪EA1280
近年来，限制使用环境有害物质已变得普遍，且成为保护环境工作的一部分 参考价面议 -
X射线荧光分析仪EA1400
EA1400是继承EA1000VX和EA1200VX特长的升级版本机型 参考价面议 -
X射线荧光测量仪FT110A
FT110AX射线荧光镀层厚度测量仪性能：1.即放即测！2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！3.可无标样测量！4.通过样品整体图像更方便选择测量位置！FT110AX射线荧光镀层厚度测量仪特点：1.通过自动定位功能提高操作性测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性 参考价面议 -
X射线荧光测量仪FT160
FT160系列镀层测厚仪介绍：FT160系列镀层测厚仪旨在应对超薄镀层的挑战，例如当今不断缩小的电子元器件的镀层 参考价面议 -
镀层测厚仪X-Strata920
牛津仪器X-Strata920X射线荧光镀层测厚仪快速可靠的X射线荧光镀层厚度测量及材料分析，低成本、高效率镀层测厚仪X-Strata920行业应用：电子行业Ø确保元件可靠性，测量焊料合金成分和镀层厚度Ø优化质量控制，确保产品生命期 参考价面议 -
面铜测厚仪CMI165
CMI165表面铜测试仪带温度补偿功能的面铜测厚仪手持式面铜测厚仪牛津仪器CMI165系列用于测试高/低温的PCB铜箔、蚀刻或整平后的铜厚定量测试、电镀铜后的面铜厚度测量，在PCB钻孔、剪裁、电镀等工序前进行相关铜箔来料检验 参考价面议 -
铜箔测厚仪CM95
CM95-手持式铜箔测厚仪牛津仪器CM95是一款为测试铜箔厚度设计的电池供电的手持式测厚仪，它能够在一秒钟之内测量印刷，电路板上的铜箔厚度，范围从1/8到4.0盎司/平方英尺(5-140微米)仪器特点：1.快速地鉴定特定铜箔厚度2.可测硬板、柔性板、单层或多层线路板表面的铜箔3.配有超软接触式探针，避免铜箔划伤 参考价面议 -
XRF镀层测厚仪FT230
XRF镀层测厚仪FT230FT230台式XRF分析仪的设计大大减少了进行测量的时间 参考价面议 -
二手菲希尔测厚仪
二手菲希尔测厚仪菲希尔X射线荧光测厚仪,设计为X-射线管和探测器系统位于测量台下部 参考价面议 -
二手精工测厚仪
二手精工测厚仪技术参数：可测量元素：原子序数22(Ti)～92(U)X射线源：小型空气冷却型X射线管球管电压：45kV管电流：1mABe窗滤波器：一次滤波器：Al-自动切换二次滤波器：Co-自动切换检测器：比例计数管准直器：方型：0 参考价面议 -
二手牛津测厚仪
二手牛津测厚仪仪器介绍：CMI900荧光X射线镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，快速无损测量，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用 参考价面议