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德国卡尔德意志 KD RMG4015裂纹测深仪,裂纹测试仪,裂纹检测仪
面议EMIC-1M 裂纹指示仪-超声波探伤仪
面议美国福禄克Fluke Ti105红外热像仪
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面议德国德图testo 882 红外热像仪
面议中国台湾泰仕TES 数字式照度计TES-1330A
面议中国台湾泰仕 TES-1339R 记录式专业级照度计
面议瑞士proceq Equotip 550便携式硬度计
面议日本川铁JFE-硬度计
面议日本川铁JFE SH-22便携式超声波硬度计
面议美泰MH310数字式便携硬度计
面议PVX A/B扫描超声波测厚仪
PVX A/B扫描超声波测厚仪
特点
- 可调方波脉冲可满足高分辨率和穿透深度等方面的要求
- 具有多种视场选择,包括射频显示、检波、时基B-扫描和大尺寸数显
- 时基B-扫描显示被测材料的断面,常用于显示被测材料底面的轮廓
- 分辨率可调
- 可选配多种单晶探头,应用于不同的用途
- 内置AGC硬件的增益用于多回波和穿透涂层的测量
- 一点和两点校准方式,或从材料列表中选择声速
- 16个出厂设置和48个用户自定义的设置
- PVX具有字母数字存储器,可满足用户报告需要
- 高速扫描功能每秒可测量32次。将探头从被测材料移开时,将显示扫描测量的zui小值
- PVX测厚仪具有上下限视听报警功能
- 利用搜索功能定位检测点,自动调整显示传送信号进入视场
- 可用Windows PC软件将数据传送的计算机或从计算机传送到PVX
另有PVXB型可选,性能除没有A扫描,其他*。
商品参数
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