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SIRIUS Compact Scan 2M
经典型三维光学扫描仪
作为一款轻便、高度移动性的3D 光学扫描仪,SIRIUS Compact Scan 系列同样采用新的蓝光技术, 结合ScanTEK Softeware 专业测量软件, 为您提供一套完整的, 性价比更好的扫描系统。
产品特点:
智能三维光学动态测量技术,自动拼接,轻松获取工件表面高精度、高密度的三维点云数据;
面轮廓扫描方式,高分辨率的体现工件细节;
通过安装不同的镜头组,可以覆盖数毫米至数米范围内的工件扫描,不仅扫描速度快,还可以兼顾边界、特征的扫描;
扫描头通过特殊防护设计,可以实现生产车间的现场测量;
千兆网络数据接口设计,保障了数据传输的同时,不失真。
技术规格:
| SIRIUS Compact Scan 2M |
测量点 | 2x2,000,000 |
测量点距 | 0.03-0.15mm |
工作距离 | 200-330mm |
扫描时间:秒 | 3秒 |
电缆长度 | 3-10m |
PC | 台式64位工作站,配置WIN7 |
可用软件 | ScanTEK Software |
扫描测头支撑 | 三角架或立柱式支架 |
工作温度 | 5-40℃ |