半导体器件键合用铜丝伸长率检验机 拉断力
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半导体器件键合用铜丝伸长率检验机 拉断力

WDW-50半导体器件键合用铜丝伸长率检验机 拉断力

参考价: ¥28000~¥38000/台

具体成交价以合同协议为准
2023-12-08 10:44:29
184
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济南方圆试验仪器有限公司

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产品简介

半导体器件键合用铜丝伸长率检验机 拉断力主要测试铜材的拉伸性能、延伸率等

详细介绍

半导体器件键合用铜丝拉伸试验机没有固定的型号,可根据铜材的强度、尺寸等选择合适的机型,另外,铜材还可以测试缠绕性能及弯曲性能,若本机参数不符合您的要求,可随时与我们沟通,我们为您推荐合适的机型。

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测试原理

铜线的拉伸测试是一种常用的实验方法,用于评估铜线材料的力学性能和方向一致性特性。这个测试基于材料在受力作用下的变形和断裂行为,通过测量应力和应变的关系,揭示铜线材料的强度、延展性和断裂特点。

试验条件

样品名称:铜线

测试速度:100mm/min

样品长度:150mm

试验类型:拉伸

试验过程

1、使用合适的工具剪断铜线,制备出长度为150mm的样品。确保两端的截面平整。

将一个样品端夹持在固定夹具上,另一个端夹持在活动夹具上。确保夹具与样品接触稳定且没有变形。

2、启动万能材料试验机,将测试速度设定为100mm/min

开始测试,试验机将逐渐施加拉力于铜线样品,导致其发生拉伸变形。

3、从应力-应变曲线中获得关键力学参数:

屈服强度:曲线的拐点,表示开始产生塑性变形的点。

抗拉强度:曲线的最高点,表示材料达到的最大拉伸应力。

断裂点:材料破裂的点,标志着材料的失效。

4、测试完成,停止试验机的运行。

技术参数

产品型号:WDW-50

结构形式:门式结构

最大试(KN):50Kn

试验力级别:1级

试验力测量范围围:0.2%--100%FS

试验力示值相对误差:≤示值的±1%

力分辨率:1/500000

位移测量装置:光电编码器

位移示值相对误差:≤示值的±1%

位移分辨率(mm):0.001

位移速率调节范围(mm/min):0.05-500无极调速

安全保护装置:机械限位保护和软件过载保护

有效拉伸空间(mm):750

有效压缩空间(mm):600

有效试验宽度(mm):400

楔形夹具夹持方式:手动加紧/自动加紧

压缩附具(mm):压盘直径φ120或定制

主机外形尺寸(mm):690×380×1650

主机电源:0.5KW/AC220V±10%

主机重量(KG):320


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