东莞爱佩专业直接生产厂商冷热冲击试验测试标准特别适用于半导体电子器件做温度破坏测试，主要测试材料结构在瞬间下经温及温的连续冲击环境下所能忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。本试验箱根据试验需求及测试标准分为三箱式和两箱式，区别在于试验方式和内部结构不同。三箱式分为蓄冷室，蓄热室和试验室，产品在测试时是放置在试验室。两箱式分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮起移动的。
标准：
1、GB/T2423.1-1989低温试验方法；
2、2GB/T2423.2-1989高温试验方法；
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验；
4、GJB150.5-86温度冲击试验；
5、GJB367.2-87 405温度冲击试验。
6、GJB360.7-87温度冲击试验；
7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——箱式
8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式
9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化
10、GB/T 2423.22-2002温度变化
11、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验般规则
13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估
冷热冲击试验测试标准技术参数：
规格型号：AP-CJ-50/80/100/150/252/480
容量：50升、80升、100升、150升、252升、480升
内箱尺寸（宽*高*深）：400X350X360、500X400X400、500X500X400、600X500X500、700X600X600、800X800X750（MM）
外形尺寸（宽*高*深）：1560X1950X1400、1700X2070X1500、1700X2170X1500、1800X2270X1600、1900X2370X1700、2000X2570X1850（MM）
试验温度范围：
A表示：-40℃～+150℃
B表示：-55℃～+150℃
C表示：-65℃～+150℃
低温槽温度范围：-55℃～-10℃、-70℃～-10℃、-80℃～-10℃
高温槽温度范围：+60℃～+200℃，升温速率平均5℃/MIN
温度波动度：±2.0℃
温度转换时间：10S
温度稳定时间：5min，常温～低温度5min，常温～高温度5min
内箱材质：SUS304不锈钢
外箱材质：SUS201纱面不锈钢或电解钢板喷塑处理