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温度循环冲击实验机主要适合用于电工电子电器机械等零组件、自动化零部件、防工业行业、航空航天研究所、兵工业、通讯产品或组件、汽车成品或配件、金属材料、化学材料、五金塑料、LED、LCD光电、光伏、照明、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对冷、热温的快速反复抵抗力及工业产品处于热胀冷缩的环境时所出现的化学变化或者物理伤害，可确认工业产品的质量,从的IC到重机械的组件，可作为工业行业众多产品改进品质的依据或参考。以便考核产品的适应性或对测试产品的行为作出评价。是新产品研发、样机实验、产品合格鉴定试验过程*的重要试验手段。
温度循环冲击实验机的型号与简易参数：
冲击试验箱型号 | AP-CJ-80 | AP-CJ-150 | AP-CJ-250 | AP-CJ-480 | ||
内箱尺寸 | 50×40×40 | 60×50×50 | 70×60×60 | 80×80×75 | ||
外箱尺寸约（以实际尺寸为准） | 161×178×166 | 183×178×188 | 192×205×200 | 202×225×215 | ||
高箱储存箱预热温度范围 | -60℃～+200℃ | |||||
低温储存箱预冷温度范围 | -10℃～-55℃；-10℃～-65℃；-10℃～-75℃； | |||||
测试塑料产品可选择温度范围 | 高温：RT～+150℃ | |||||
低温：RT～-40℃；RT～-55℃；RT～-65℃； | ||||||
性能 | 温度稳定度 | ±2℃ | ||||
移动与归复时间 | 移动时间约10秒钟，恢复时间约3~5 min | |||||
高箱储存箱升温时间 | ℃ | 150 | 150 | 150 | 150 | |
min | 40 | 40 | 40 | 40 | ||
高箱储存箱降温时间 | ℃ | -55 -65 -75 | -55 -65 -75 | -55 -65 -75 | -55 -65 -75 | |
min | 70 80 90 | 80 90 100 | 90 100 110 | 100 110 120 | ||
满足的标准有以下:
GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 2部分试验方法 试验A 低温;GJB360.7-87温度冲击试验;GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 2部分:试验方法 试验B:高温;GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件;GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件;GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件;GB/T 2423.22-2002温度变化;GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则;SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——箱式；SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备;GB2424.1 电工电子产品环境试验 高低温试验导则;GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
