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介电常数测试仪说明书

时间:2010-01-27      阅读:3336

 STD-A陶瓷介质损耗角正切及介电常数测试仪

 

一、概述

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;该仪器广泛应用于大专院校、科研院所对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准:GB/T5594.4-1985

二、仪器的技术指标

1.频率范围及刻度误差

范围:50KHz~50MHz共分七个波段

  1.150~150KHz

  1.2150~450KHz

  1.3450~1500KHz

  1.41.5~4.5MHz

  1.54.5~12MHz

  1.612~25MHz

  1.725~50MHz

允许误差:+2%

2Q值测量范围及误差

范围:5~500

误差:1)当频率从5~25KHz

         量程5~50 +5%

         量程15~150 +5%

         量程50~500 +7%

2)当频率从25~50MHz,所有量程均为+10%

3Q范围:-25 ~ 0 ~ +25

3.电感测量范围及误差

范围:0.1μH~100mH

误差:+5%+0.01μH

4.试样尺寸

圆片形:厚度2+0.5mm,直径为Φ30~40mmε<12时)

Φ25~35mmε=12~30时)

Φ15~20mmε>30时)

三、实验步骤:

1.本仪器适用于110V/220V , 50Hz+0.5Hz交流电,使用前要检查市电电压是否合适,采用稳压电源,以保证测试条件的稳定。

2.开机预热15分钟,使仪器恢复正常状态后才能开始测试。

3.按部件标准制备好的陶瓷试样,两面用烧渗法被上银层,并分别焊上一根Φ0.8mm30~40mm长的金属引线。引线材料为铜,表面镀银并浸锡。

4.选择适当的辅助线圈插入电感接线柱。根据需要选择振荡器频率,调节测试电路电容器使电路谐振。假定谐振时电容为C1,品质因素为Q1

5.“Q零点调节”旋钮使Q表指向表头中间零点。

6.“Q量程”开关扳回500档。

7.将被测样品接在“CX”接线柱上。

8.再调节测试电路电容器使电路谐振,这时电容为C2,“Q量程”扳向Q位置,可以直接读出Q,并且Q2= Q1Q,将Q表量程扳回500档。

9.用游标卡尺量出试样的直径Φ和厚度d(分别在不同位置测得两个数据,再取其平均值)。

四、实验结果

1tanδε测定记录

实验数据按表1要求填写。

1                  tanδε测定记录表

试样名称

 

测定人

 

测定时间

 

试样处理

 

编号

C1

C2

C

d

ψ

δ

Q1

Q

Q2

tanδ

QX

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2.计算

Cd

Φ2

1)介电常数ε

ε=

 

式中:C---试样的电容量(PF, C= C1C2

d---试样厚度(cm);

Φ试样直径(cm)。

  C1     Q       C1     Q1Q2 

C1C2    Q1* Q2     C1C2    Q1* Q2

2)介质损耗角正切tanδ

                 tanδ=        *        =       *

 

 1     Q1Q2   C1C2

tanδ   Q1Q2     C1

3) Q

                  Q =     =       *

 

五、注意事项

1.圆片形试样的尺寸(Φ=38mm+1mmd=2mm+0.5mm)要符合公差要求,两面烧渗银层、浸锡及焊接引出线要符合技术条件。

2.电压或频率的剧烈波动常使电桥不能达到良好的平衡,所以测定时,电压和频率要求稳定,电压变动不得大于1%,频率变动不得大于0.5%

3.电极与试样的接触情况,对tanδ的测试结果有很大影响,因此烧渗银层电极要求接触良好、均匀,而厚度合适。

4.试样吸湿后,测得的tanδ值增大,影响测量精度,应严格避免试样吸潮。

5.在测量过程中,注意随时检查电桥本体屏蔽的情况,当电桥真正达到平衡,“本体-屏蔽”开关置于任何一边时,检查计光带均应zui小,而无大变化。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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