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ST300比色红外测温仪制作厂家
ST300比色红外测温仪制作厂家在线式比色红外测温仪采用比色测温原理直接测量目标的真实温度而基本不受材料辐射率的影响,抗烟雾、水蒸气和灰尘能力强。具有多种测温方式,并且带有温度显示和信号输出,既适合于测量,又适合于闭环控制。仪器测温不受窗口玻璃影响(有色玻璃除外)。也不受距离系数限制。仪器具有密封性好,防水、防尘,结实耐用,灵活、精确、抗干扰强、设备尺寸小、智能化、速度快等特性。适于环境条件恶劣的工业现场中使用。
技术参数:
● 双色比值技术摆脱了对能量测量的依赖,可进行更高精度、重复性的温度测量。
● 双色比值技术降低或消除了大部分环境对其的影响,比如脏透镜、脏窗口等。
● 双色比值技术其原理决定了所测温度为目标温度zui大值,更接近目标温度实际值。
● 未知发射率情况下,双色比值技术有测温优势。
● 具有单双色模式,也可作为单色测温仪使用。
技术指标
ST300-A | ST300-B | ST300-C | |||
测温范围 | 600℃~1400℃ | 700℃~1800℃ | 1000℃~3000℃ | ||
光谱响应 | 0.7μm~1.3μm | ||||
光学分辨率 | 150:1 | 300:1 | |||
测量精度 | 读数值的±1% | ||||
重复精度 | 读数值的±0.5% | ||||
响应时间 | ≤100 ms | ||||
瞄准方式 | 望远镜目视瞄准 | ||||
坡度 | 0.800~1.200(双色模式) | ||||
发射率 | 0.10~1.00(单色模式) | ||||
信号处理 | 单双色模式切换;峰值保持;平均值;继电器报警 | ||||
电源 | 24VDC,±20%,250mA(允许存在100mV峰值波纹) | ||||
功率 | zui大2W | ||||
模拟输出 | 4-20mA | ||||
数字通信 | RS485 | ||||
输出继电器 | 一个常开触点,1A30VDC/0.5A125VAC 阻 抗: ≤50mΩ | ||||
防护等级 | IP65 | ||||
环境温度 | -20℃~60℃ | ||||
相对湿度 | 10%~95%不结露 | ||||
外形尺寸 | Φ50*185 mm | ||||
重量 | 600克 | ||||
价格 | 22930.00 | 22930.00 | 25430.00 |
典型应用
● 多晶硅生产
多晶硅生产开始时半导体硅芯在还原炉中被高电压瞬间击穿,通过硅芯的电流使硅芯达到工艺要求的1080℃,而且此工艺温度在硅芯由φ7mm~φ180mm 生长的过程中必须一直保持恒定。但随着硅棒的直径不断增加,其相应阻抗会不断减小,电流对硅棒的加热能力因而降低。要维持1080℃的恒定硅棒温度,只能 相应不断增大工作电流(电流将由开始时的30A增大到结束时的2800A)。如此大动态范围电流的变化,对生产设备及操作人员都提出了相当高的要求。另 外,硅棒在达到1420℃时将熔化,所以精确测量多晶硅的温度至关重要。
测量难点:
(1)开始生产时的硅芯直径只有φ7mm,目标太小。
(2)红外测温仪测量硅棒的温度时,必须将设备安装于还原炉外部,透过密封石英窗口瞄准炉内目标。视窗污染对透过率产生的影响而导致实际测量误差。
(3)双层石英玻璃对红外信号衰减较大。
ST300系列比色测温仪优势:
(1)采用比色测温原理直接测量目标的真实温度而基本不受材料辐射率的影响,无需进行发射率的补偿。
(2)目视瞄准,可直接看到目标。
(2)对窗口轻微污染不敏感。
(3)摆脱了对红外能量的依赖,对信号衰减不敏感。