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CTS-30B|-CTS-30B超声波测厚仪
面议.DM5E Basic/DM5E/DM5EDL超声波测厚仪 0.6~508mm
面议LK390超小型超声波测厚仪
面议美国MAGNAFLUX Y-7 交/直流磁轭探伤机 磁粉探伤仪-超声波探伤仪
面议探伤胶片富士工业胶片(80*300)质量保证射线探伤胶片
面议LKJ-8数字式电火花防腐层检测仪-电火花检测仪
面议供应JG-3电火花防腐层检测仪-电火花检测仪
面议供应TH-100D冷暖双光源观片灯*
面议CTS-409-测厚仪
面议英信固 2+ 解放双手型多重测量模式超声波测厚仪
面议供应KCT-IIIA型多功能磁粉探伤仪
¥2800科电供应 KCT-IA便携式磁轭探伤仪
¥1500紫外辐照计 紫外线线强度计 单通道 双通道
款UV-A紫外线辐照计,自动量程。
UV-A型紫外辐照计采用SMT贴片技术,选用高精度低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
紫外辐照计 紫外线线强度计 单通道 双通道
产品特点:
*光谱及角度特性经严格校正 *数字液晶显示,带背光
*手动/自动量程切换 *数字输出接口(USB,冗余供电)
*低电量提醒 *自动延时关机
*有数字保持 *轻触按键操作,蜂鸣提示
主要技术指标:
* 波长范围及峰值波长:(以下两种探测器选其一)
(1)UV-420探头:(光谱响应曲线见附图)λ:(375~475)nm;λP=420nm
(2)UV-365探头:(光谱响应曲线见附图)λ:(320~400)nm;λP=365nm
* 辐照度测量范围:(0.1~199.9×103) μW/cm2
* 紫外带外区杂光:UV420:小于0.02% UV365:小于0.02%
* 相对示值误差:±10%(相对与NIM标准)
* 角度响应特性:±5%(α ≤10°)
* 线性误差:±1%
* 换档误差:±1%
* 短期不稳定性:±1%(开机30min后)
* 疲劳特性:衰减量小于2%
* 零值误差:满量程的±1%
* 响应时间:1秒
* 使用环境:温度(0~40)℃,湿度<85%RH
* 尺寸和重量:160mm×78mm×43mm;0.2kg
* 电源:常规使用6F22型9V积层电池一只
亦可使用数据线连接USB接口、5V电源适配器供电
整机功耗 <0.1VA
导