依科视朗Y.Panel-数码平板探测器

依科视朗拥有10年以上生产使用于工业环境下的数码平板探测器经验。我们的员工为ASTM委员会代表，并与BAM（德国联邦材料研究与试验学院）紧密合作。他们拥有专业知识，对行业标准作出了决定性贡献。

• 适应于软件像素矫正的像素规格

• 模型选择与应用相对应

• 自主探测器必要安装和屏蔽设计

• 与主要探测器制造商紧密合作

无论是检测焊缝、碳纤维增强塑料装备、电子装备还是铸造部件：每个应用需要合适的探测器设计，以取得图像质量和细节检测能力。

依科视朗从各类制造商供应的模型中挑出不同模型来完成此项工作。有时，制造商同意做出特定修改，比如减少敏感度。因此，允许有更高的放射量，但探测器不能超负荷。反之，由于信噪比提高，量子噪音降低，且细节检测能力明显提高。

在几年前的一项联合测试项目中，我们已与制造商一起解决了产品寿命问题，例如相关的Y.Panel XRD探测器模型。同样，依科视朗已与制造商就修改Y.Panel XRD模型像素规格达成了一致，明确提高了标准模型的清晰度，且与ASTM 2597-E07保持一致。并考虑用Y.IMAGE软件矫正算法找出足够的相邻像素以纠正响应不足的像素灰度值。