头戴式耳机扩张寿命验机疲劳试验机-深圳市铭宇仪器设备有限公司手机版

详细介绍

一、设备用途：

本试验机主要适用于头戴式耳机的头戴结构经过N次扩张测试后，检测头带是否损坏。专业大器的外观设计,高质感表面处理,结合现代化的触摸屏及PLC控制系统，可精准的对头戴式耳机扩张结构进行寿命试验.

二、设备特点：

1、采用液晶触摸控制屏+三菱 PLC 做动作控制，可设定扩张行程、扩张速度、测试次数,；

2、采用日本步进马达驱动；

3、采用进口滚珠丝杆,定位精准；

4、可对耳壳直径为8至12厘米大小的头戴式耳机进行夹持；

5、测试时的速度范围 0～3000 /min可调；

6、专用夹具,可快捷方便的夹持产品；

三、技术参数：