工作原理

1.       HEAD3020动态离子分析仪TEIMS的工作原理是根据离子飘移的波谱测量技术(Ion Mobility Spectrometry)。这技术能测量微少SF6气体的污染物含量和局部放电所产生足够数量的腐蚀性物质的含量;也能检测到极其少量的微水形成腐蚀性物质及有毒物质的含量，更能放置于一台便于携带及耐用可靠的仪器中，能让维修人员在设备现场实施检测并得到测量结果。

2.       不同的化合物分子经过离子产生源（局部放电）后，所产生的离子之流动性有所不同（因质量和几何形状等原因）， 所测量到的离子漂移时间也不同。污染物使离子群的相互作用力不同，从而导致漂移时间峰值刻度位置也相应不同。所以， 峰值的漂移，可用于开关中SF6气体的纯度检测，得到一个与SF6中杂质数量相对应的直观的信号。

3.       仪器HEAD3020先将所测量气体样本离子化，测量离子于特定的电场内飘移的速度，得出相关的波谱，再跟纯净气体的波谱比较，得出峰值的相差。仪器根据峰值的相差，便能计算出气体中污染物的总含量。

应用特点

1.       电力公司、高电压变电站、发电厂。

2.       安装可接于所有现时通用的阀门。

3.       操作简单，机动性高，可*监视GIS、GIT..等气室的SF6绝缘品质。能收到有关于SF6气体情

况以及开关工作可靠性的信息，并可及时判断气体污染情况，在造成开关的故障和严重损坏之前

排除隐忧。

4.       量化SF6气体内污染物的含量（0.5-5，000ppm）。

5.       测量水分的含量（单位：DP或ppm）。

6.       通过内置的压力传感器，可监控密闭空间内的压力。

7.       测量局放及其过去记录（即使小于1pc）。

8.       到预防故障的维修策略。

9.       极少的气体消耗量（每次300-500ml）。

10.    快速得到测试结果（10秒内）。

主要功能

1.       直接动态监控SF6的纯度，并能显示测量SF6内污染物的总含量（0.5 – 5，000 ppmv）。

2.      可探测气体绝缘空间中小于1PC的电子放电。

3.      实现SF6填充空间预防故障的检查及维修策略。

4.      通过分析周期趋势曲线防止开关失效。

5.      透过内置的压力传感器，可动态检测并显示监控密闭空间内的压力。

6.      通过露点测量得到SF6中的微水含量。

7.      快速得到测试结果（少于10秒）。

8.      极少的气体消耗量（每次约300ml）。

技术参数

1.       电源：115/230V  AC，50-60HZ

2.       功率：60W

3.       信号：0-10V

4.       触发：0-10V

5.       重量：11Kg

6.      尺寸：185×340×320mm

7.      压力：zui大14bar（1400kpa）

8.      流量：2L/h

9.      一次测量消耗气体（10次质谱）：约300ml

*服务

1.       产品享有一年的免费质保期，终身维护。

2.       提供详尽的使用说明书等用户资料。

3.       用户使用情况直接进入哈德CRM系统，客户支持区对使用情况全程跟踪服务。

4.       定期寄赠《哈德专栏》、《哈德人》、《哈德电子期刊》以及的SF6行业及产品信息，让客户了      解行业动向、共享维护经验和维护技术前沿信息等。

5.       定期的SF6产品专题研讨和培训。

6.       随时解答用户咨询。

7.       完善的反馈通道：

1）：，。

2）总机：转销售、客服、、投诉（10线）。

3）：www.chinahead.cn。

4）电邮：support@chinahead.cn。

哈德电气----SF₆开关监测维护类资源专业供应商，为您提供以下系列产品、服务和技术咨询：

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