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数显千分尺-日本三丰防冷却液千分尺293-232-30
面议日本三丰Mitutoyo数显千分尺293-231-30
面议HR-523/522/521硬度计-日本三丰洛氏硬度试验机
面议硬度试验机-日本三丰维氏硬度计HV-112/810-163
面议硬度计-日本三丰维氏试验机HV-113/810-981
面议三丰mitutoyo数显百分表543-402B/543-402
面议现货供应三丰数显低测力百分表543-405B/543-405
面议三丰mitutoyo便携式里氏硬度计HH-411
面议供应三丰mitutoyo指示表台架7002-10测量台
面议三丰mitutoyo数显卡尺500-171-20
面议供应三丰硬质合金量爪数显卡尺500-175-30/500-174-30
面议三丰mitutoyo数显卡尺500-152-30.测量范围0-200mm
面议
三丰SV-2100S4/H4装置型表面粗糙度测量仪
三丰SV-2100S4/H4装置型表面粗糙度测量仪
产品特色:
◆带有控制器的高精度,高性能,袖珍型表面粗糙度测量仪,操作简单方便,显示一目了然。
◆配有7.5英寸彩色TFT液晶屏幕、大号彩色图标与触控式面板控制,该显示装置操作简单,读取容易。
◆控制部的内置操纵杆使得定位快捷简便。测量小孔内侧可使用手动旋钮对细小触针的位置进行微调。
◆表面粗糙度测量条件的设置简单易行。利用简单的输入功能可按ISO/JIS/VDA粗糙度标准计算绘图指令符号。
评估能力:
评估轮廓
P (主轮廓), R (表面粗糙度轮廓), WC, WCA, WE, WEA,包络残余线、粗糙度motif、波形motif
评估参数
Ra, Rc, Ry, Rz, Rq, Rt, Rmax, Rp, Rv, R3z, Sm, S, Pc, mr(c), dc, mr,tp, Htp, Lo, Ir, Ppi, HSC, Da, Dq, Ku, Sk, Rpk, Rvk, Rk, Mr1, Mr2,A1, A2, Vo, la, lq
粗糙度motif参数: R, AR, Rx
波形motif参数: W, AW, , Wte
分析图表
ADC, BAC,功率谱图
数显滤波器
2CR-75%, PC-75%、高斯滤波器、鲁棒样条
截止波长
ls: 0.25μm, 0.8μm, 2.5μm, 8μm, 25μm, 250μm、无滤波器
lc*: 0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm
lf: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm、无滤波器
采样长度(L)*
0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm, 80mm
(仅适于SV-2100)
数据补偿功能
抛物线补偿、双曲线补偿、椭圆补偿、R平面(曲面)
补偿、锥面补偿、倾斜补偿
*在0.02mm至50mm的范围内可任意长度。
性能参数:
型号 | SV-2100M4 | SV-2100M4 | SV-2100S4 | SV-2100S4 | |
检测器测力 | 0.75mN | 4mN | 0.75mN | 4Mn | |
探针行程 | - | 100mm | |||
花岗石基座尺寸(D) | - | 610x450mm | |||
移动范围 | 电动立柱350mm | 电动立柱350mm | |||
移动直线度 | 0.15um/100mm | 0.02mm/s,0.05mm/s,0.1mm/s, 0.2mm/s,0.5mm/s,1mm/s,2mm/s | |||
探针速度 | 测量 | 0.1mm/s,0.2mm/s, 0.5mm/s,1mm/s,2mm/s | 0.02mm/s,0.05mm/s,0.1mm/s, 0.2mm/s,0.5mm/s,1mm/s,2mm/s | ||
定位 | 0.5mm/s,2mm/s 可手动调节 | 可使用操纵杆进行调节 0.1mm/s-5mm/s (可手动调节) | |||
测量范围 | 8um/0.0001um,80um/0.001um,800um/0.01um | ||||
检测器 | 类型:标准型(178-396-2/178-397-2*) 探针:钻石型、60°/90°*锥型(针尖半径:2um/5um*) 检测方式:微分电感 | ||||
数据输出 | 通过RS-232C端口 | ||||
电源 | 通过AC适配器(100-240V AC,150VA) | ||||
尺寸(DxH)** | 263z82z144mm | 710x50x905mm | |||
重量 | 2.8kg | 130kg |