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详细介绍 |
技术特点 主要特性 1、 优异的DWDM技术规格:FTB-5240 OSA具有优良的光抑制比(ORR)、分辩率带宽、波长范围和动态范围,可提供的灵活性的功率。FTB-5240B OSA具有更佳的光抑制比和高分辩率,适用于新一代的超密集波分复用。 2、 使用便捷:单键式操作。可透过简易而直觉的触摸屏界面执行各种自动化功能,图形用户界面(Graphical User Interface)提供与选项菜单及各种功能的连接。 3、 杰出的便携性能:OSA内置于一个坚固质轻、镁质外壳和橡胶减震装置的FTB-400通用测试系统中,可承受在工作现场或从实验室工作台上掉落所产生的撞击。 4、 佳的光抑制比选件:新型FTB-5240B选件具有业界中佳的光抑制比,可为光信噪比(OSNR)测量提供无比的精确度:0.1nm/可达40dBc,0.2nm/可达50dBc,0.4nm/可达55dBc. 5、 内部校准:新型FTB-5240B具有内部参考光源,可将C-/L-波段中的波长不确定性维持在±30pm. 6、 外部校准:可在执行测试之前利用外部光源重新校准OSA,C-/L-波段中的波长不确定性可达±15pm. 技术规范 FTB-5240 FTB-5240B 光谱测量 波长范围(nm) 1250至1650 1250至1650 分辩率带宽FWHM(nm) 0.065 0.033 波长不确定性(nm) ±0.05 ±0.03 ±0.015 ±0.015 波长测量重复性(nm) ±0.003 ±0.003 波长线性(nm) 典型 ±0.01 ±0.01 幅度测量 动态范围(dBm) 18至-75 18至-75 功率不确定性(dB) ±0.4 ±0.4 光抑制比(dBc) 12.5GHz(±0.1nm) 典型 40 zui小 35 25GHz(±0.2nm) 典型 40 50 zui小 35 48 50GHz(±0.4nm) 典型 50 55 zui小 45 50 PDL/1550nm(dB) 典型 ±0.07 ±0.07 zui小 ±0.15 ±0.15 扫描时间(s) <1.5(35nm径距、全分辩率、多波峰分析) 光回损(dB) >35 >35 |