DZ3320A差热分析仪是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。

DZ3320A差热分析仪技术参数：

DZ3320A差热分析仪仪器特点：

仪器主控芯片采用Cortex-M3内核ARM控制器，运算处理速度更快，温度控制更。

采用USB双向通讯，操作更便捷。

采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏，界面更友好。

采用铂铑合金传感器，更耐高温、抗腐蚀、抗氧化。