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由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低,他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要,SB100A/3型四探针导体/半导体电阻率测量仪采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量。可用于高校物理教育实验,对导体/半导体/金属薄膜材料的电阻 及电阻率的测试及研究。本产品的电阻测量范围可达10-5—106Ω。
SB100A/3型四探针导体/半导体电阻率测量仪是由SB118/1型精密电压电流源以及SB120/2四探针样品平台二台仪器构成。
l SB118型精密直流电压电流源 (详见该产品使用说明书)
直流电流源
a) 电流输出范围:1nA~200mA,输出电压不小于5V;
b) 量程:分五档,20μA、200μA、2mA、20mA、200mA;
c) 电流输出的基本误差:0.03%RD±0.02%FS(20±2℃);其中50~200mA为0.05%RD±0.02%FS。
直流电压源
a) 电压输出范围:5μV~50V,负载电流不小于10mA(20mV以上);
b) 量程:分五档,20mV、200mV、2V、20V、50V,每档均有粗调和细调;
c) 电压输出的基本误差:0.05%RD±0.02%FS(20±2℃)。
数字电压表(4½LED)利用电压源部分“取样”端可对被测电压进行测试
a) 测量量程 20mV,200mV,2V,20V,200V
b) zui高分辨力 可达1µV
c) 基本误差为 0.03%RD±0.02%FS (20±2ºC)
l SB120/2四探针样品平台(详见该产品使用说明书)
为被测薄膜样品,利用四探针测量方式测量导体/半导体样品的电阻和电阻率,提供了方便。
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