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| 数字集成电路测试仪 功 能 参 数 | ||
| 测试对象及测试功能： 测试对象： TTL、CEL、COMS、NMOS及其他类型的MSI/LSI器件，包括微处理器、微控制器、配套的外围品件、静态及动态RAM、PROM、EPROM和一定范围内的集成电路。 测试功能： 真值表功能测试，直流参数测试 适用范围 1.半导体器件生产厂家的生产测试（中测和成测） 2.整机厂、研究单位的器件验收测试及其他各种应用测试。 ＊测试速率：２ＭＨz ＊测试通道数：４８ ＊接口：具有计算机通用外设接口，串行Ｒ２３２通信接口，ＩＥＥ－４８８仪器接口，自动中测台、自动上料器接口。 ＊应用软件主要包括：系统的诊断、校准包；测试程序库。 BJ3140 现有测试程序 74LS系列： 00, 01, 02, 03, 04, 05, 08, 09, 10, 11, 12, 13, 15, 20, 27, 30, 32, 42, 47, 74, 75, 78a, 83a, 85, 86, 92, 93, 107, 109, 112, 113, 114, 123, 123s, 125, 126, 132, 133, 138, 139, 148, 151, 153, 155, 156, 157, 158, 161, 163, 163k, 164, 173, 174, 175, 181, 190, 193, 194, 195, 197, 221, 221s, 240, 241, 244, 245, 251, 253, 257, 258, 259, 260, 273, 279, 280, 299, 353, 367a, 373, 374, 393, 393a, 541, 574. 74S系列： 03, 05, 08, 09, 10, 11, 32, 40, 64, 86f, 114, 133, 138, 139, 151, 153, 157, 163-2, 181, 201, 241, 244, 251, 280, 299, 373. 74系列： 00, 01, 02, 03, 04, 05, 08, 09, 10, 12, 13, 14, 16, 17, 20, 22, 23, 25, 26, 27, 28, 30, 32, 37, 38, 40, 42a, 45, 50, 53, 54, 60, 74, 75, 76, 80, 100, 107, 122, 125, 151a, 153, 154, 156, 163, 176, 182, 195, 196, 221, 251, 265, 273, 276, 278, 279, 283, 293, 298, 367. 74HC系列： 00, 04, 161, 573. 54LS系列： 02，03，04，05，08，09，10，11，12，251． 54S系列： 02, 03, 04, 05, 08, 09, 10, 11. 54HC系列： 221, 241, 393, 51, 76 4000系列: 00, 01, 02, 07ub, 08, 09ub, 10, 11, 11a, 13, 15, 17, 18, 19 20, 21, 22, 23, 24, 25, 26 其他： 8088, 8088c, 8212, 8214, 8216, 8226, 8228, 8238, 8253, 8255, 8259, 8259a, 8279, 8282, 8283, 8286, 8287, 8288, 82-c83, 6264, 8287, 2167, 2167-1, pyd76, s74138a, s74157, s74193. |
