半导体激光器老化筛选及寿命综合测试系统 简介

   专门针对单管、单bar和阵列激光器器件进行老化筛选和对寿命指标进行评价的试验设备。设备包括功率测量模块（积分球、功率计等）、电源模块、温度控制模块、保护电路模块、巡检模块、总控模块、控温机箱和自动化组成，实现了对激光器器件老化寿命试验的自动化监控和保护。

   针对半导体激光器开发的老化寿命测试系统。测试过程通过保护电路进行实时保护，测试结果实时显示，实现测试数据存储、统计分析以及报表打印等功能。

半导体激光器老化筛选及寿命综合测试系统特点

 完整的系统硬件结构

• 恒温试验箱
• 程控脉冲电源
• 温度控制模块
• 过压、过流、过温保护电路
• 巡检系统
• 工业用计算机
• 带散热装置的机柜

自动化的功能实现

• 自动实现半导体激光器功率的测量
• 对半导体激光器进行老化筛选及寿命测试
• 硬件可扩充、更换
• 自动化快速测量
• 测试信息、状态、参数实时显示
• 波形实时显示与分析
• 测试数据自动存储
• 测试结果判断和安全信息提示
• 自动生成测试报告 

自动化的功能实现

1.  独立环境温度控制箱，有效去除环境温度变化对试验结果的影响；
2.  试验数据自动采集、记录，并可同步对寿命试验数据进行统计分析；
3.  每个试验器件带有独立的保护电路，确保器件免受过热、过电冲击；
4.  负载施加、参数测试、电路保护集成自动控制；
5.  试验器件温度水冷控制，采用智能温控PID进行控温；
6.  适合C-Mount、F-Mount、CS、VS、G-Stack等多种封装形式。

   集成化、模块化硬件设计采用集成化控制，上位机软件对各个功能模块进行集中控制，保证系统的有序运行。

可靠易用、功能强大的系统软件

试验前在软件设置参数，系统将自动运行和监控，每一个器件实现独立保护和报警。测试界面如下：

   系统开发数据库软件，具有强大的数据管理和分析功能，自动判断器件是否合格，记录数据、波形分析以及生成测试报告等。

典型应用

    半导体激光器老化寿命测试系统现已在中国科学研北京半导体研究所、*公司第四十四研究所、鞍山大德光电科技有限公司、*电子第五研究所（重点实验室）等激光器专业研究所和生产企业得到了广泛应用和推广，大大提高了激光器老化筛选和寿命评价试验的自动化程度、试验效率以及数据比对准确度和可参考价值。

技术指标