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2600A/B/C半导体激光器老化台典型应用
半导体激光器老化寿命测试系统现已在中国科学研北京半导体研究所、*公司第四十四研究所、鞍山大德光电科技有限公司、*电子第五研究所（重点实验室）等激光器专业研究所和生产企业得到了广泛应用和推广，大大提高了激光器老化筛选和寿命评价试验的自动化程度、试验效率以及数据比对准确度和可参考价值。
2600A/B/C半导体激光器老化台筛选及寿命综合测试系统
半导体激光器老化筛选及寿命综合测试系统是针对半导体激光器开发的老化寿命测试系统。测试过程通过保护电路进行实时保护，测试结果实时显示，实现测试数据存储、统计分析以及报表打印等功能。
完整的系统硬件结构
自动化的功能实现
型号 | 系统名称 |
2600A | 单管半导体激光器综合寿命测试系统 |
2600B | 单bar半导体激光器综合寿命测试系统 |
2600C | 阵列半导体激光器综合寿命测试系统 |
技术指标
功能 | 单管激光器老化寿命测试系统 | 单bar激光器老化寿命测试系统 | 阵列激光器老化寿命测试系统 |
工位数量 | 60（可定制） | 40（可定制） | 6（可定制） |
电流范围 | 连续：0-20A 准连续：0-20A，占空比≤20% | 连续：0-100A 准连续：0-300A，占空比≤20% | 连续：0-200A 准连续：0-300A，占空比≤20% |
电压范围 | 60V内自适应 | 30V内自适应 | 200V内自适应 |
功率范围 | 1-20W（CW）/1-20W（QCW） | 1-250W（CW）/1-500W（QCW@≤20%占空比） | 1-5000W（CW）1-8000W（QCW@≤20%占空比） |
波长范围 | 400-1300nm | 400-1300nm | 400-1300nm |
环境温度 | 25℃,温度均匀性± 2℃ | 25℃,温度均匀性± 2℃ | 25℃,温度均匀性± 2℃ |
器件温度 | 25-70 ℃ | 25-70 ℃ | 25-70 ℃
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