SXJS-IV智能化介质损耗测试仪
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SXJS-IV智能化介质损耗测试仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2017-08-11 12:57:43
234
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扬州达瑞电气有限公司

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产品简介

SXJS-IV智能化介质损耗测试仪是一种*的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。它淘汰了QSI高压电桥,具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压,抗*力强, 测试时间短等优点,是我厂的第三代智能化介质损耗测试仪。

详细介绍

SXJS-IV智能化介质损耗测试仪工作原理 

仪器测量线路包括一路标准回路和一路测试回路,标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成,由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差,并算出被测试品电容容值(CX)和介质损耗(tgδ)。 
数据采集电路全部采用高压稳定器件,采集板和采集计算机被铁盒*浮空屏蔽,仪器外壳接地屏蔽;另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术,加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理,使测量结果稳定、精确、可靠。

SXJS-IV智能化介质损耗测试仪技术指标 

1.环境:-5℃~40℃(液晶屏应避免长时间日照) 
2.相对湿度:30%~70% 
3.供电电源:电压:220V±10%,频率50±1Hz 
4.外形尺寸:长*宽*高=500mm*300mm*400mm 
5.重量:18kg 
6.输出功率:1.5KVA 
7.显示分辨率:3位、4位(内部全是6位) 
8.测试方法:正接法、反接法、外接试验电压法

特点

本公司创新的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

能对固体绝缘材料在100kHz~100MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。

特制TFT彩屏菜单式显示多参数:介电常数(ε),介质损耗角(tanδ),Q值,测试频率,调谐状态和调谐容值等。

Q值量程自动/手动量程控制。

DPLL合成发生1kHz~70MHz(WY2852A/D),50kHz~160MHz(WY2853A/D)测试信号。独立信号源输出口,所以本机又是一台合成信号源。

测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

 

 

 

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