主要特点及优点

• 集成的C-V表适合于4200-SCS机架，用于电容(C)和电导(G)测量
• C-V测量和参数提取功能全面集成入的系统软件
• 包含扩展的C-V测试库和参数提取
• 无需外部基于GPIB的C-V测量仪器
• 集成的设计简化了器件和材料特性分析
• 配置线性或自定义扫描具有多达4096个数据点
• 灵活的多频测试信号，从10kHz到10MHz
• 既适合新款4200-SCS系统，也可用于为已有的系统升级
• 可选的附件包用于连接流行的分析探针

4200-CVU集成的C-V选件是吉时利不断增长的可选的集成测试方案产品线的成员，用于4200半导体特性分析系统。这款新仪器直接集成到4200的一个插槽上，允许用户将电容和电导测量功能集成到已有的功能强大的参数分析仪中。随着4200-CVU的推出，4200-SCS现在为半导体测试用户提供强大的灵活性，可以建立一个集成的解决方案，直流、脉冲和C-V测试能力，都包含在一个充分利用空间的机架、一个集成的测试环境中。的系统软件“吉时利交互式测试环境”(KTEI, 7.0版),支持新款C-V仪器，让4200-SCS用户的C-V测量如直流测量一样轻松。当前市场上的C-V测量方案中，4200-CVU拥有泛的C-V测试和分析库支持。