索恩达锡膏检测设备,桌面型SPI,检出率高-电子/半导体检测仪器
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索恩达锡膏检测设备,桌面型SPI,检出率高-电子/半导体检测仪器

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2020-01-24 20:00:00
3090
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深圳市索恩达电子有限公司

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产品简介

索恩达锡膏检测设备,桌面型SPI,检出率高
采用全新的大理石底座设计,实现了稳定、坚固的机身,有利于三维测试数据精确度。整机结构模块化设计,影像系统、运动控制、结构制造实现了高集成,简单化,有利于各种应用及设备维护。

详细介绍

  索恩达锡膏检测设备,桌面型SPI,检出率高

  

  

  “SVII-460高速三维锡膏检测系统”采用全新的铝铸造底座设计,实现了稳定、坚固的机身,有利于三维测试数据准确度。整机结构模块化设计,影像系统、运动控制、结构制造实现了高集成,简单化,有利于各种应用及设备维护。

  

 

  

 

  1. 提供检测精度和检测可靠性。

  2. 高度精度:±1um(校正制具)

  3. 重复精度:高度小于1um(4 σ)(校正制具)

  4. 体积小于1%(5 σ)(校正制具)

  5. 同步漫反射技术(DL)完*焊膏的结构阴影和亮点干扰。

  6. 采用130万像素的高精度工业数字相机,高精度的工业镜头。

  7. 一体化铸铝机架配合大理石底座,保证了机械结构的稳定性。

  8. 伺服马达配合精密及滚珠丝杆和导轨,确保了设备优异的机械定位精度。

  9. Gerber文件导入配合手工Teach应对所有使用者要求。

  10. 五分钟编程和一键式操作简化使用者的操作。

  11. 直观的动态监视功能,监视实时检测和设备状态。

  12. 检测速度小于2.5秒/FOV。

 

 

*的技术参数
测量原理Measurement Principle3D 白光 PMP PDG(可编程数字光栅)
测量项目Measurements体积、面积、高度、XY偏移、形状
检测不良类型Detection of nonperforming types漏印、少锡、多锡、高度偏高、高度偏低、连锡、偏位、形状不良
相机Camera130万像素
FOV尺寸FOV size26x20mm
精度Accuracy高精度:±1μm
分辨率ResolutionXY方向:10μm Z轴:0.37μm
重复精度Repeatability体积:小于1%(4 Sigma)
高度:小于1μm(4 Sigma)
面积:小于1%(5 Sigma)
Gage R&RGage R&R<<10%(6 Sigma)
检测速度Detection Speed高精度模式:小于2.5秒/FOV
Mark点检测时间Mark-point detection time1秒/个
大测量高度Maximum Measuring height350μm
弯曲PCB大测量高度Maximum Measuring height of PCB warp±5mm
小焊盘间距Minimum pad spacing100μm
小测量大小Smallest size measurement长方形:150μm,圆形:200μm
大PCB尺寸Maximum PCB Size宽x长 460x410mm PCB厚度 0.3mmx5mm
工程统计数据Engineering StatisticsHistogram,Xbar-R Chart,Xbar-S Chart,Cp & Cpk,%Gage Repeatability Data, SPI Daily/Weekly/Monthly Reports
读取检测位置Read position Detection支持Gerber Format(274x,274d_)格式,人工Teach模式
操作系统支持Operating system supplortWindows XP Professional & Windows 7 Professionaal
电源Power200-240VAC,50/60HZ单相
设备规格Equipment Dimensionandeight927x852x700 mm 160KG

  索恩达锡膏检测设备,桌面型SPI,检出率高

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