HK-低温挠卷试验装置-深圳市宏康仪器科技有限公司手机版

产品简介

一，低温挠卷试验装置标准：JIS-C3005、UL1581、GB、IEC、VDE
二，说明：
导体断面积100mm2以下之试料在本机内冷却1小时后，立即以均匀之速度卷绕于规定直径之圆杆上。断面积100mm2以上之试料，则先行卷绕，再冷却相同之时间后，立即以反方向卷绕于圆杆上。取出试料，检视其表面是否产生龟裂、裂痕。

详细介绍

低温挠卷试验装置

一，低温挠卷试验装置标准：JIS-C3005、UL1581、GB、IEC、VDE

二，说明：

导体断面积100mm2以下之试料在本机内冷却1小时后，立即以均匀之速度卷绕于规定直径之圆杆上。断面积100mm2以上之试料，则先行卷绕，再冷却相同之时间后，立即以反方向卷绕于圆杆上。取出试料，检视其表面是否产生龟裂、裂痕。

三，技术参数：

温度

Temp.

冷却方式

Cooling method

降温速度

Cooling speed

精度

Accuracy

材质

Material

圆杆

Rod

内箱

Test chamber

线套

体积

Dimension

(W×D×H)

重量

Weight

电源

Power

-40～+130℃

气冷式

Air Frozen

常温

Room temp. ～-40℃,

60min

±2℃

内外箱，

SUS304#

Φ4.0～37.5mm，共12支

45×50×50cm

Φ3.5/6/

10/12/

16mm

各2只

100×80×135cm

262kg

1∮

AC 220V 30A