CPS纳米粒度分析仪，有别于传统方法，通过差示离心沉降原理为颗粒的精细区分提供新的解决方案
 

　　这种原理有以下几点优势：
 

　　分辨率高：
 

　　同激光散射和颗粒计数法等方法比较，该方法有非常高的分辨率。对于只有 1%的颗粒差异分布的时候，该方法测定的结果仍然有好的分离效果。您能看到的是颗粒分布本身，而不是分布颗粒的混合图。
 

　　灵敏度高：
 

　　低至 10-8 g 的样品就可以满足日常分析需要。
 

　　重复性高：
 

　　样品结果在95%的典型置信度下，连续重复分析峰的重复性小 于+/-1% 或更好。
 

　　快速、高精度数模(A/D)转换:
 

　　可用信号分辨率(即软件操作的对象)决定于  数模转换的过程。CPS系统使用的数模  转换  可以实现在每秒31次取样时保持20位以上的精  度，几百万分之一的误差。