粒度粒形分析仪功能及特点：

　　1.可对高速运动状态下的颗粒进行清晰的粒形和粒度分析，从不同的方向测试颗粒的形状，保证被测试样品的代表性；

　　2.高效、简洁的模块化设计，让不同的分散系统和图形分析系统自由组合，完成不同应用领域的测试要求，比如对粉状物料、悬浮液、纤维状物料、透明晶体的粒形粒度分析；

　　3.可达到亚微米级的高清晰度、高精度的粒形和粒度大小同步测试；

　　4.高达400万像素的CMOS成像系统，可以保证清晰的得到每一个颗粒的粒形信息；

　　5.每秒高达500幅图片的成像速度，可以快速的获得颗粒粒度信息，并进行统计分析；

　　6.可以用于颗粒的计数应用。

　　粒度粒形分析仪高性能的镜头和*的激光斜入射结构，在单光束条件下实现了全角度散射光信号的接收。这种技术不仅达到了进口仪器的用多光束技术来扩大散射光角度的效果，还避免了多光束技术造成的间断散射光信号的连接偏差和多波长造成的样品折射率偏差，使测试结果更准确，同时实现了对纳米、微米甚至毫米级样品的准确粒度测试。

　　由于探测器数量多和结构*，该仪器具有分辨单峰、双峰和多峰样品的能力。同时，该仪器还具有样品折射率测量计技术、自动对中技术、防干烧超声波分散技术、SOP技术、大功率短波长偏振光技术等，进一步保证了重复性、准确性和分辨力。