日本SANKO接触式膜厚计SWT-7000 Ⅲ

日本SANKO接触式膜厚计SWT-7000 Ⅲ

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2021-02-27 09:39:47
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产品简介

日本SANKO接触式膜厚计SWT-7000 Ⅲ总代理:sanko三高,涂层测厚仪/金属探知器/水分计EISEN爱森,针规/三线规/螺纹规RIKEN理研,水平仪/偏摆仪/直角尺

详细介绍

产品详细介绍

日本SANKO接触式膜厚计SWT-7000 Ⅲ

日本SANKO接触式膜厚计SWT-7000 Ⅲ

SWT-7000+FN325探头:可进行铁材和非铁材为基材上的涂层厚度。

新的两用探测头FN-325可用于SWT系列的产品(7000、8000、9000)可测量铁与非铁底材为基体的涂层厚度。

SWT-7000Ⅲ系列机型

机型

SWT-7000Ⅲ

SWT-7100Ⅲ

SWT-7200Ⅲ

测量范围

连接的探测头不同测量范围也不同。

显示方式

液晶显示LCD(数据·提示信息)、背光灯

检量线校正

2点校正方式(零校正、标准校正)

检量线存储

铁、非铁各1根

10根

测量值存储

20,000点

数据传送

USB

USB

统计功能

内藏

附加功能

●背光灯   ●测量模式的切换(普通/连续)   ●检量线、校正值的删除

●自动关机功能(约3分以上不操作时,机器会自动关机) ●分辨率的切换  

●上下限值的设定(SWT-7200Ⅲ)

电源

单3电池 ×2

单3电池 ×2 电源线

使用温度

0~40C°(不结露)

机体尺寸·重量

72(W)×30(H)×156(D)mm、 重量 210g

附属品

干电池、收纳袋子

干电池、收纳袋子、电源线、USB线、USB软件(CD)

追加产品

铁材金属用探测头(Fe)、非铁材金属用探测头(NFe)

铁·非铁材用探测头(FN-325)

SWT系列探头可互换。 

 ◆ 两用型 : FN-325  

 ◆ 铁材用 : Fe 系列     

 ◆ 非铁材 : NFe 系列

探测头型号

FN-325

测量方式

电磁式·涡电流式两用(铁·非铁底材自动识别)

测量范围

铁底材:0~3.00mm、非铁底材:0~2.50mm

表示分辨率

1μm:0~999μm的切换(铁·非铁共通)

0.1μm:0~400μm(铁·非铁共通)

0.5μm:400~500μm(铁·非铁共通)

0.01mm:1.00~3.00mm(铁底材)

0.01mm:1.00~2.50mm(非铁底材)

测量精度

(平滑表面)

0~100μm::1μm(铁·非铁共通)

或者是指示值的±2%以内

101μm~3.00mm:±2%以内(铁底材)

101μm~2.50mm:±2%以内(非铁底材)

探测部

1点定压接触式、V形切口、φ13×52mm、72g

选择产品

V形探测头套有3种(φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)

附属品

标准校正板、试验用零校正板、(铁用·非铁用)

测量对象

铁底材:铁·钢等磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂膜、

电镀(电解镍除外)等

非铁底材:铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘皮膜等

一般较普遍的测量物用

SWT-7000Ⅲ系列的铁材金属用探测头(1)(Fe)

型号

Fe-2.5/2.5L

Fe-2.5LwA

Fe-0.6Pem

测量方式

电磁感应式

测量范围

0~2.50mm

0~600μm

表示分解率

1μm:0~999μm

切换

0.1μm:0~400μm

0.5μm:400~500μm

0.01mm:1.00~2.50mm

1μm:0~600μm

切换

0.1μm:0~400μm

0.5μm:400~500μm

测量精度

(平滑面)

0~100μm:±1μm

又或者时显示值的±2%以内

101μm~2.50mm:±2%

0~100μm:±1μm

又或者时显示值的±2%以内

101μm~600μm:±2%

探测部

1点定压接触式

V形口套头

2.5:φ13×48mm

2.5L:18×23×67mm

1点定压接触式

测量部:约20×57mm

全长:约550~ 1.550mm

(伸缩式)

1点定压接触式

Φ5.6×94mm

选择产品

V形套头/—

(φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)

附属品

标准校正片

试验用零校正板

(铁用)

标准校正片

试验用零校正板(铁用)

收纳袋子

标准校正片

试验用零校正板

(铁用)

测量对象

铁·钢等的磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂层、电镀层(电解镍的电镀层除外)等等

铁·钢等的磁性金属底材是哪个的皮膜、衬层等等手不能进去、高的地方、有距离的地方的涂层厚度的测量。

铁·钢等磁性金属底材上的涂层、衬层等狭小的地方、小的部位的涂层的膜厚测量。

SWT-7000Ⅲ系列的铁材金属用探测头(2)(Fe)

型号

Fe-10

Fe-20

测量方式

电磁感应式

测量范围

0~10mm

0~20mm

表示分解率

1μm:0~999μm

0.01mm:1~10mm

1μm:0~999μm

0.01mm:1~5mm

0.1mm:5~20mm

测量精度

(平滑面)

0~3mm:±(5μm+显示值的3%)

3.01mm:显示值的±3%

探测部

1点定压接触式

V形口套头

φ18×47mm

1点定压接触式

V形口套头

φ35×59mm

选择产品

附属品

标准校正片、试验用零校正板(铁用)

测量对象

铁·钢等磁性金属底材的比较厚的涂层用

铁·钢等磁性金属底材上的厚涂层用

探测头要根据需要购买。

SWT-7000Ⅲ系列的非铁材金属用探测头(NFe)

型号

NFe-2.0/NFe-2.0L

NFe-06

NFe-8

测量方式

涡电流式

测量范围

0~2.00mm

0~600μm

0~8mm

表示分解率

1μm:0~999μm

切换

0.1μm:0~400μm

0.5μm:400~500μm

0.01mm:1.00~2.00mm

1μm:0~600μm

切换

0.1μm:0~400μm

0.5μm:400~500μm

1μm:0~999μm

0.01mm:1~8mm

测量精度

(平滑表面)

0~100μm:±1μm

又或者时显示值的

±2%以内

101μm~2.00mm:

±2%以内

0~100μm:±1μm

又或者时显示值的

±2%以内

101μm~600μm:

±2%以内

0~100μm:±1μm

±(±1μm+显示值的±2%)

101μm~8mm:

±2%以内

探测部

1点定压接触式

V形口套头

2.0:φ13×47mm

2.0L:18×23×67mm

1点定压接触式

V形口套头

φ11×48mm

1点定压接触式

V形口套头

φ35×61mm

选择产品

V形套头/-

附属品

标准校正片、试验用零校正板(非铁用)

测量对象

铝、铜等非磁性金属底材

上的绝缘性皮膜等一般普

通测量物用。

铝、铜等非磁性金属底

材上的绝缘性皮膜等

细小的圆棒、细管、小

物件等的高安定性用。

铝、铜等非磁性金属

底材上的绝缘性皮膜等

比较厚的测量物用。

探测头要根据需要购买。


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