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TSY-35型塑料薄膜和薄片测厚仪
一、TSY-35型塑料薄膜和薄片测厚仪简介：
薄膜测厚仪适用于塑料薄膜、薄片的厚度测试，还可适用于纸张、纸板的厚度测试、箔片、硅片、金属片的厚度测、试纺织材料的厚度测试、固体电绝缘体的厚度测试。
二、TSY-35型塑料薄膜和薄片测厚仪产品参数
1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2、上下测量面为平面时，测量面对试样施加的负荷为0.5N到1.0N之间。
3、上下测量面为凸/平面时，上测量面的曲率半径在15-50（mm）时，其测量面对试样施加的负荷为0.1N到0.5N之间。
4、测量精度
100um以内 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um
