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Avaatech XRF Core Scanner 技术:可靠、快速和无损分析
XRF(X 射线荧光)岩芯扫描仪最初设计用于快速、无损地测定、海洋和湖泊沉积物的化学成分。例如,这种沉积物材料通常使用箱形岩心、重力岩心和活塞岩心获得,并收集在塑料管中,随后在长度上分开,提供的沉积物表面,以使用 Avaatech XRF Core 分析其整体地球化学扫描器。除了此类沉积岩芯材料外,Avaatech XRF 岩芯扫描仪还用于其他各种材料,只要它们具有相对平坦的表面,例如珊瑚板、岩芯、贝壳材料、沉积物过滤器和松散的沉积物材料在样品杯中。Avaatech XRF Core Scanner 的分析通常在陆地实验室进行。
XRF 分析方法使用 X 射线源和检测器准确定位在样品表面上方。X 射线管产生的 X 射线照射样品。样品中存在的元素发射具有离散能量的荧光 X 射线辐射,这些能量是样品材料中元素的特征。测量能量和强度可以确定存在哪些元素以及存在多少元素。的 Avaatech XRF Core Scanner 型号配备了 100W 铑 (Rh) X 射线管和立方硅漂移探测器。的检测器包含一个集成在检测器晶体上的低容量前置放大器,与老一代检测器相比,它可以在较短的峰值时间内提高光谱分辨率。
XRF 岩心扫描仪能够在几分钟内以 1 厘米的样品分辨率对一米长的岩心中的主要元素进行完整扫描。当然,这取决于用户的目标。内部开发的软件可以轻松调整设置以满足用户的预期目标。例如,为了可靠地测量微量元素,可以适当调整计数次数和能量设置。另一方面,如果需要非常高的分辨率,可以很容易地将分辨率调整到 0.1 毫米的数据密度。核心扫描仪配备了一个电机驱动的门,可以访问核心定位系统。的核心定位系统允许同时定位三个长达 1520mm的核心。
Avaatech Core Scan 技术和进步
的第六代 Avaatech Core Scanner 配备了的可变光学 XRF 系统。使用 Avaatech 光学系统,可以独立确定 X 射线束的长度和宽度。被辐照样品区域的长度(在下芯方向)可以在 10 到 0.1mm 之间变化,而在横向芯方向上的辐照长度可以在 12 到 0.1mm 之间变化。带狭缝的精密 Avaatech 光学系统可防止检测来自被照射样品区域外部的 X 射线辐射(通过 XRF 方法固有的元素的二次荧光产生),否则会导致分辨率的不良下降。
Avaatech XRF Core Scanner 使用带铑阳极的 100W X 射线管生成 X 射线,用于激发样品中的元素。一代(第六代)Avaatech XRF 岩心扫描仪使用立方体硅漂移探测器,该探测器包含集成在探测器晶体上的低容量前置放大器,与老一代探测器相比,可在较短的峰值时间内提高光谱分辨率。这允许使用 Avaatech Core Scanner 可靠地检测从钠 (Na) 到铀 (U) 的元素。的是,整个光学系统都用氦气冲洗,以实现对轻元素的出色检测;这是许多竞争核心扫描仪所缺乏的功能,导致这些竞争扫描仪对轻元素的分析相对较差。请注意,如果用户主要关注较重的元素并且可以在软件中轻松打开或关闭 He 冲洗,则无需进行这种 He 冲洗。为了来自样品表面的分析信号,测量单元将与样品表面轻轻接触,从而产生 Avaatech Core Scanner 的分析结果样品表面覆盖有一层对 X 射线高度透明的薄箔,以防止免受污染,同时还可以防止长时间测量过程中沉积物岩芯脱水。
易于使用的软件和的硬件
Avaatech Core Scanner 易于操作,无需专业知识即可进行常规分析,同时机器只需非常有限的维护。Avaatech Core Scanner 提供的数据处理软件分析也不需要太多的用户专业知识。可以毫不费力地遵循该过程的每一步。在测量沉积物岩芯或其他样品后,用户可以在几分钟内获得处理后的数据。
定期与用户联系有助于我们获得反馈,我们可以利用这些反馈来进一步开发我们的扫描仪。连同技术改进,这使 Avaatech 能够提供的设备并预测研究的新发展。与荷兰海洋研究所 (NIOZ) 的研究人员密切合作,不断进行研究和开发,台 XRF 核心扫描仪就是在那里开发和建造的。
Avaatech 开发了质量的可靠核心扫描仪,30 多年来被的研究人员使用。Avaatech 用户通常称赞 Avaatech 成员帮助用户的热情和决心。提供的服务和价值是 Avaatech 的首要任务。
磁化率
MS2 磁化率计是一种测量范围广、分辨率高的仪器。它可以测量高达 26 SI(体积)的磁化率,有效分辨率为 2 x 10-6 SI,测量周期可选择低至 0.1s。MS2 仪表/MS2E 点测量通过 Avaatech 核心扫描仪软件控制,使用与 XRF 测量类似的用户界面,操作简单。
光学成像系统
包含三个 CMOS 传感器和一个分束器。Jai LT-400 CL-F 使用 630nm、535nm 和 450nm 的 RGB 通道,具有的通道分离。它有 3x 4096 像素,7 微米像素,每个单独的像素都在白色陶瓷参考瓷砖上校准。线扫描相机不仅可以生成岩心的高分辨率彩色图像(允许对沉积物颜色进行存档),还可以将数据用于进一步基于颜色的沉积物分析和岩心相关性。
相机通过易于操作的软件进行控制。成像软件可用于指示样品表面的感兴趣位置,随后可使用 XRF 直接测量这些位置。
光源可以替换为 380 nm 紫外光源,从而可以对珊瑚、石笋、贝壳和碳酸盐核等进行紫外发光测量。
包括:
相机支架
• 特殊校准台
• 计算机硬件相机
• 27 英寸第二台显示器
• 紫外光专用设备
• 移动相机进行紫外发光成像的慢速驱动器
• 高频线性照明系统
• 交叉核心图像覆盖范围为 100 毫米
• 下芯图像,扫描速度为 1 分钟/米
• 在参考白色表面上进行单独的 CCD 像素校准
• 聚焦扫描功能,便于聚焦调整
• 扫描过程中的实时图像校准
• 生命图像和 RGB 直方图扫描期间的屏幕
• 以 BMP、TIF 和 JPG 格式输出图像
• 以包含 RGB 数据和 CIE-l*a*b* 数据的 ASCII 颜色输出
取芯器
切芯机专为高质量劈开塑料内衬芯而设计。纵向分割机构由电动机自动操作。
将使用两个带钩的刀片切割壁厚达 2 毫米的软衬里。
可以使用 2 个旋转罗盘锯(可以精确设置以切入内衬的一部分)和完成切割的钩状刀片的组合来切割较厚的壁衬。这些切割技术可以忽略不计地用塑料切割废料污染样品。因此,可以获得干净的芯表面。“切割线”用于手动分割松散的芯材。
截图:
Avaatech高精度XRF岩心元素扫描仪包括主机轨道搭载系统、高精度XRF化学元素测量子系统、彩色扫描相机、磁化率测试系统和高性能计算机和软件。
技术规格:
U型槽 | 具备U型槽 |
固定器 | 可放置岩心直径为30–145 mm、单个岩心长度1520 mm的分离式岩心;一次性可放置三根岩心即长度可达4560 mm(三根岩心); |
占地面积 | 主机占地面积2.6 m2;(高1780mm;宽3000mm;进深850mm) |
步进精度 | 测量模块移动步进精度0.005 mm; |
高精度XRF化学元素测量子系统 | 能够记录Na, Mg, Al, Si, P, S, Cl, K, Ca, Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Ge, As, Se, Br, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Cd, In, Sn, Sb, Te, Cs, Ba, La, Ce, Pr, Nd, Pb, U 即Na–U之间所有元素特征,保证能量分辨率在5.9keV时为133eV; |
分辨率 | 测试岩心(顺岩心方向)的分辨率0.1mm,可按照操作者需求在(0.1–10)mm之间任意调节; |
电动控制狭缝系统 | 具备电动控制狭缝系统(CCG),非接触测量,并且防止破坏岩心; |
氦气 | 使用氦气来消除空气对测量的影响,氦气供给速度为25 ml/分钟; |
放射性 | 放射性0.09 usv/hr; |
探头距离岩心表面的工作距离 | 0.1 mm; |
探测有效面积 | 41 mm2; |
X射线源 | 具备具有冷却功能的X射线源,带铑阳极,电压范围50kV,电流范围2 mA,额定功率100 W,工作寿命20000小时; |
探测器晶体厚度 | 450 μm的硅漂移探测器; |
检测器的窗口厚度 | 1000 nm |
光学成像系统 | 4K及以上相机(高分辨率),分辨率25 μm; |
除常规灯(RGB)以外,配备紫外线灯专用装置,从而可以对珊瑚、石笋、贝壳和碳酸盐矿物等进行紫外发光测量,能够有效识别岩心中的碳酸盐矿物和其他特殊矿物 | |
包含三个 CMOS 传感器和一个分束器 | |
带有相机支架和专用校准台,扫描相机配置27寸显示器; | |
配置移动相机进行紫外线发光成像的慢速驱动器,具备对焦扫描功能;扫描图片以BMP、TIF和JPG格式输出,包含RGB数据CIE-lab数据的颜色输出。 | |
磁化率测试系统 | XRF配备磁化率测试功能,可测量26SI(体积)的磁化率,有效分辨率为2*10-6SI,测量周期为0.1 s。 |