提篮式高低温冲击试验设备主要技术指标：

温度范围：高温箱： +60℃～200℃；低温箱： 0℃～-70℃；

温度波动度：±0.5℃;

温度均匀：±2℃;

升温速率：≤5℃/min； （全程平均）

降温速率：≤5℃/min；； （全程平均）

预冷下限温度：≤-70℃;

冲击温度：+150～-60℃;

样品架尺寸:150×150mm;

温度恢复时间： 5min;

样品架转换时间：≤8s;

冲击方式：上下移动提篮式或翻板式

电源：380V±10﹪ 50H

提篮式高低温冲击试验设备用途

用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具."

为了保证试验箱降温速率和Z低温度的要求，本试验箱采用一套“泰康”全封闭压缩机所组成的二元复叠式风冷制冷系统。复叠制冷系统包含一个高温制冷循环和一个低温制冷循环; 原装液晶显示触控式莹幕直接按键型控制器,中文表示的图形之广视角,高对比附可调背光功能之大型LCD液晶显示控制器

设备满足以下标准：

GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件

GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验A：低温

GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验B：高温

GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则

GJB 150.3A-2009 装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验

GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验

GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验

GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验