产品名称：

    轮廓测定仪

    产品应用：

    轮廓测定仪采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌，台阶高度，给MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和*材料的研发和生产提供了一个精确的、价格合理的计量方案。

    技术参数：

    垂直测量范围：27mm

    垂直分辨率：<2nm

    扫描速度：1m/s

    横向分辨率：5nm

    可视区域：400*600mm

    技术参数：

    垂直测量范围：27mm

    垂直分辨率：<2nm

    扫描速度：20mm/s

    横向分辨率：0.1m

    测量范围：150mm×150mm

    产品特性：

    1.采用白光轴向色像差技术，可获得纳米级的分辨率

    2.测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高

    3.尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面

    4.不受样品反射率的影响

    5.不受环境光的影响

    6.测量简单，样品无需特殊处理

    7.Z方向max测量范围为27mm

    8.测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)