X荧光光谱仪
时间:2015-07-20 阅读:313
DM8000型X荧光光谱仪
概述:
DM8000型X荧光光谱仪是由本公司集数十年X荧光分析仪的研究经验,在公司原有的DM系列X荧光钙铁分析仪、测硫仪、铝硅分析仪、多元素分析仪等的基础上研制推出的一种达到*水平的分析仪器。它采用波长色散X射线荧光分析技术(WDXRF),多道同时测量从Na到U的任意十种元素,对大多数元素分析的含量可低至ppm高至。具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作人员劳动强度低、只需一次性投资、无污染等特点,故广泛应用于建材、冶金、石油、化工、地质、矿山等各行各业。
DM8000型X荧光光谱仪关键部件采用进口产品,如X射线管采用Varian公司生产的400W薄铍端窗X射线管,Na、Mg等轻元素道探测器窗采用Moxtek公司生产的0.6μm超薄聚酯窗,恒温室温度控制精度小于0.1℃,流气系统采用高精度流气密度稳定装置,压力稳定度小于3Pa,由此使本光谱仪具有*的精度和准确度,达到*水平。本光谱仪屏蔽防护的良好设计保证无任何射线泄漏,满足辐射豁免要求。
DM8000型X荧光光谱仪应用于我国水泥行业尤其显示出其*性。由于该款仪器是为水泥行业专门开发的,*标准GB/T 176-2008 《水泥化学分析方法》和建材行业推荐标准JC/T 1085-2008《水泥用X射线荧光分析仪》,其性能对水泥行业来说比进口同类产品更好,而价格仅为进口同类产品的几分之一,具有*的价格性能比。另外国内企业售后服务的方便程度是国外企业所无法相比的。
主要技术指标
1. 分析元素或其氧化物种类:从Na到U的任意十种元素及其氧化物,以水泥为例(下同)具体是: Na2O,MgO,
Al2O3,SiO2,SO3,TiO2,K2O,CaO,Fe2O3等。
2. 分析范围宽度:“控制目标值±2.5%”的范围内,由所标定的曲线决定。
3. 系统分析时间:典型值:180秒。
4. 精密度:谱线强度的变异系数:εSiO2<0.40%,εSO3<2.0%,εCaO<0.15%。
5. 稳定性:谱线强度的极差:RSiO2<1.5%,RSO3<5.0%,RCaO<0.5%。
6. 线性:含量的误差:ENa2O<0.035%,EMgO<0.10%,EAl2O3<0.14%,
ESiO2<0.14%,ESO3<0.10%,ETiO2<0.035%,
EK2O<0.07%,ECaO<0.18%,EFe2O3<0.10%。
7. X射线管功率:400W(zui高50KV,zui大8mA)。
8. 恒温室温度:36℃±0.1℃。
9. 使用条件:环境温度:15~+28℃,相对湿度:≤75%(25℃),电源:220V±20V,50Hz。
10. 整机功耗:<50W。
11. 尺寸及重量:长×宽×高:790mm×760mm×1200mm,重量:195kg。
水泥国家标准样品测量结果
XS1标样 | Fe2O3 | SiO2 | SO3 | Al2O3 | CaO | K2O | MgO | Na2O |
标准值 | 1.96 | 14.43 | 0.24 | 4.27 | 39.84 | 0.30 | 2.59 | 0.09 |
平均示值 | 1.95 | 14.34 | 0.26 | 4.31 | 39.95 | 0.29 | 2.51 | 0.07 |
zui大示值 | 1.96 | 14.39 | 0.27 | 4.36 | 39.98 | 0.29 | 2.54 | 0.07 |
zui小示值 | 1.94 | 14.29 | 0.26 | 4.29 | 39.92 | 0.29 | 2.50 | 0.07 |
极差 | 0.02 | 0.1 | 0.01 | 0.07 | 0.06 | 0 | 0.04 | 0 |
示值标准偏差 | 0.005 | 0.02 | 0.002 | 0.02 | 0.02 | 0.0014 | 0.01 | 0.001 |
示值相对标准偏差 | 0.2564 | 0.1690 | 0.8346 | 0.4684 | 0.050 | 0.5011 | 0.3984 | 1.506 |