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X荧光光谱仪

时间:2015-07-20      阅读:313

DM8000型X荧光光谱仪

概述:

DM8000X荧光光谱仪是由本公司集数十年X荧光分析仪的研究经验,在公司原有的DM系列X荧光钙铁分析仪、测硫仪、铝硅分析仪、多元素分析仪等的基础上研制推出的一种达到*水平的分析仪器。它采用波长色散X射线荧光分析技术(WDXRF),多道同时测量从NaU的任意十种元素,对大多数元素分析的含量可低至ppm高至。具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作人员劳动强度低、只需一次性投资、无污染等特点,故广泛应用于建材、冶金、石油、化工、地质、矿山等各行各业。

 DM8000X荧光光谱仪关键部件采用进口产品,如X射线管采用Varian公司生产的400W薄铍端窗X射线管,NaMg等轻元素道探测器窗采用Moxtek公司生产的0.6μm超薄聚酯窗,恒温室温度控制精度小于0.1,流气系统采用高精度流气密度稳定装置,压力稳定度小于3Pa,由此使本光谱仪具有*的精度和准确度,达到*水平。本光谱仪屏蔽防护的良好设计保证无任何射线泄漏,满足辐射豁免要求。
 DM8000X荧光光谱仪应用于我国水泥行业尤其显示出其*性。由于该款仪器是为水泥行业专门开发的,*标准GB/T 176-2008 《水泥化学分析方法》和建材行业推荐标准JC/T 1085-2008《水泥用X射线荧光分析仪》,其性能对水泥行业来说比进口同类产品更好,而价格仅为进口同类产品的几分之一,具有*的价格性能比。另外国内企业售后服务的方便程度是国外企业所无法相比的。

主要技术指标
1. 分析元素或其氧化物种类:NaU的任意十种元素及其氧化物,以水泥为例(下同)具体是: Na2OMgO
  Al2O3SiO2SO3TiO2K2OCaOFe2O3等。
2. 分析范围宽度:控制目标值±2.5%”的范围内,由所标定的曲线决定。
3. 系统分析时间:典型值:180秒。
4. 精密度:谱线强度的变异系数:εSiO20.40%εSO32.0%εCaO0.15%
5. 稳定性:谱线强度的极差:RSiO21.5%RSO35.0%RCaO0.5%
6. 线性:含量的误差:ENa2O0.035%EMgO0.10%EAl2O30.14%
           ESiO20.14%ESO30.10%ETiO20.035%
           EK2O0.07%ECaO0.18%EFe2O30.10%
7. X射线管功率:400W(zui高50KV,zui大8mA)。
8. 恒温室温度:36±0.1
9. 使用条件:环境温度:15~+28,相对湿度:≤75%(25),电源:220V±20V50Hz
10. 整机功耗:<50W
11. 尺寸及重量:长××高:790mm×760mm×1200mm,重量:195kg

水泥国家标准样品测量结果

XS1标样

Fe2O3

SiO2

SO3

Al2O3

CaO

K2O

MgO

Na2O

标准值

1.96

14.43

0.24

4.27

39.84

0.30

2.59

0.09

平均示值

1.95

14.34

0.26

4.31

39.95

0.29

2.51

0.07

zui大示值

1.96

14.39

0.27

4.36

39.98

0.29

2.54

0.07

zui小示值

1.94

14.29

0.26

4.29

39.92

0.29

2.50

0.07

极差

0.02

0.1

0.01

0.07

0.06

0

0.04

0

示值标准偏差

0.005

0.02

0.002

0.02

0.02

0.0014

0.01

0.001

示值相对标准偏差

0.2564

0.1690

0.8346

0.4684

0.050

0.5011

0.3984

1.506


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