X系列 半自动探针台

X系列 半自动探针台

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-03-30 14:23:11
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北京东方中科集成科技股份有限公司

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产品简介

X系列是一款专业应对各类芯片性能测试 的综合型半自动晶圆探针台，集成了电学、光波、微波等多种功能，高测试精度、运行效率与系统稳定性，可匹配多种测试应用环境，能为各类晶圆和器件提供可靠性测试。

详细介绍

X系列是一款专业应对各类芯片性能测试 的综合型半自动晶圆探针台，集成了电学、光波、微波等多种功能，高测试精度、运行效率与系统稳定性，可匹配多种测试应用环境，能为各类晶圆和器件提供可靠性测试。

 

产品亮点：X系列半自动探针台

 

  • 测试运行速度≥70mm/s（目前行业较高速度为50mm/s），有效提升测试效进的多倍率成像技术，高精度测量与动态监控，点针更便捷操作
  • -60℃~300℃宽泛测试温宽区
  • 7*24小时全天候在片探测 自主研发软件集成系统，兼容性更强

 

产品参数：X系列半自动探针台

 

森美协尔 X系列 半自动探针台

森美协尔 X系列 半自动探针台

（*规格和设计如有更改，恕不另行通知。）

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