影响测量仪的发展趋势

全自动影响测量仪是在数字化影像测量仪基础上发展起来的人工智能型现代光学费接触测量仪器，其承续了数字化仪器优异的运动精度与运动操控性能，融合机器视觉软件的设计灵性，属于当今前沿的光学尺寸检测设备。我司生产的全自动影响测量仪能够便捷而快速的进行坐标测量与SPC结果分类，满足现代制造业对尺寸检测日益突出的要求：更高速，更便捷，更的测量需要，解决制造业发展中的又一个瓶颈技术。

全自动影响测量基于机器视觉的自动边缘提取，自动取匹，自动对焦，测量合成，影响合成等人工智能技术，具有：点哪走哪自动测量，自动学习批量测量，影响地图目标指引优异功能。同时，基于机器视觉与微米控制下的自动对焦过程，可以满足清晰造影下辅助测高需要（亦可加入触电侧头完成坐标测高），支持空间坐标旋转的优异软件性能，可在工件随意放置的情况下进行批量测量，亦可使用夹具进行大批量扫描测量与SPC结果分类。

全自动影响测量仪是影像测量技术的阶段，具有高度智能化与自动化特点。其优异的软硬件性能让坐标尺寸变得便捷而惬意，拥有基于机器视觉与过程控制的自动学习功能，依托数字化仪器高速而的微米级走位，可将测量过程的路径，对焦，选点功能切换，人工修正，灯光匹配等操作过程自学并记忆。

全自动影响测量仪可以轻松学会操作员的所有实操过程，结合其自动对焦和区域搜寻功能，目标锁定，边缘提取，理匹选点的模糊运算实现人工智能，可自动修正由工件差异和走位差别导致的便宜实现选点，具有高精度的重复性，从而使操作人员从疲劳目视对位，频繁选点，重复走位，功能切换等单调操作和日益繁重的待测任务中解脱出来，成倍的提高工件批测效率，满足工业抽检与大批量检测需要。