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DUALSCOPE FMP40涂层测厚仪自动识别基材,将磁性和涡流测量法相结合,DUALSCOPE FMP40涂层测厚仪可自动识别基体,大容量存储。 DUALSCOPE FMP40涂层测厚仪的特点: -根据磁感应法和/或电涡流法对涂层进行非破坏性测量 DUALSCOPE FMP40涂层测厚仪方便的手持设备,用于对几乎所有金属上的涂层进行非破坏性的涂层厚度测量应用行业: 菲希尔涂层测厚仪常用的探头图示: 常用磁性探头:FGAB1.3,测量范围:0 - 2000 μm 常用涡流探头:FTA3.3H,测量范围:0 - 1200 μm 常用磁性非磁性双功能探头:FD10,测量范围:磁性:0-1300 μm,涡流,0-800 μm |