本目录是上海百试电气有限公司为您精选的全自动抗干扰介质损耗测试仪产品，欢迎您该产品的详细信息！全自动抗干扰介质损耗测试仪的种类有很多，不同的应用也会有细微的差别，本公司为您提供*的解决方案。

全自动抗干扰介质损耗测试仪是一种*的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗，（tgδ）和电容容量（Cx）它淘汰了 QS 高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗*力强、测试时间（在国内同类产品中速度快）等特点。体积小、重量轻是我公司的第二代抗干扰介质损耗测试仪。 

全自动抗干扰介质损耗测试仪

技术指标：
      1、环境温度：0 ～ 40℃（液晶屏应避免长时日照）         
      2、相对湿度：30% ～ 70% 
      3、供电电源：电压：220V±10%、频率：50±1Hz 
      4、外形尺寸：长×宽×高   500mm×300mm×400mm 
      5、重量：    约18Kg           
      6、输出功率：0.6KVA 
      7、显示分辩率：3位、4位（内部全是6位） 
      8、测量范围及输出电压选择： 
                 介质损耗（tgδ）：±0.00～±999% 
                 试品电容容量（Cx）和加载电压： 
                 2.5KV档:≤300nF（300000pF）            3KV档:≤200nF（200000pF） 
                 5KV档:≤76nF（76000pF）                7.5KV档:≤34nF（34000pF） 
                 10KV档:≤20nF（20000pF） 
      9、基本测量误差： 
                 介质损耗（tgδ）：1%±7个字（加载电流20uA～500mA） 
                 介质损耗（tgδ）：2%±9个字（加载电流5uA～20uA） 
                 电容容量（Cx）：1.5%±1.5pF