AT系列硅油离型膜测厚系统
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杭州扬涛科技有限公司
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硅油离型膜测厚系统硅油离型膜测厚系统是一个利用光谱干涉法的非接触式薄膜测厚系统，它仅包含一个光纤，一个集成系统含光源，迷你分光仪和数据分析仪。这个设计重点强调了尺寸大小和节省空间，便于安装到客户设备内部，也能够灵活的进行测量不同类型物体。
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