LE-SP-ART系列 透射、反射和吸收光谱测试系统

LE-SP-ARTLE-SP-ART系列 透射、反射和吸收光谱测试系统

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-07-18 07:36:21
90
产品属性
关闭
深圳市理欧光电科技有限公司

深圳市理欧光电科技有限公司

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

光谱范围:0.2um~28um(光谱范围可选,常用范围:350nm-900n

详细介绍

LE-SP-ART系列 透射、反射和吸收光谱测试系统
Absorption,Reflection&Transmission Measurement System

产品功能和应用Applications

测试平面光学元件(如棱镜、滤光片、光栅、平行平板、镀膜、半导体器件、太阳能电池片等)的吸收、透射/反射光谱。

█ 测试球面光学元件(凹面镜、凸面等)的吸收、透射/反射光谱。

测试各种漫反射样品或粉末的散射吸收光谱

█ 测试各种材料(半导体材料、薄膜材料、溶液、玻璃、晶体、布料、汽车贴膜、眼镜等)的吸收、透射/反射光谱。

█ 测试各种农产品(水果、稻谷、小麦)的吸收、散射光谱。

测试各种光与物质作用时,通过光信号不同波长的吸收判断物质特性的领域

主要规格及特色Features&Benefits

█ 光谱范围:0.2um~28um(光谱范围可选,常用范围:350nm-900nm200nm-1100nm350nm-2500nm200nm-2500nm1-5um8-14um,2-16um)

波长分辩率:0.03nm~10nm (由所选波长范围确定)

█ 测试系统高集成度,全自动化的测量

光源采用德国OSRAM紫外、可见、近红外灯泡,进口中远红外SiCSiN发光模块

█ 光信号探测采用美国进口高灵敏度紫外、可见、红外探测器,并且可选择配套TEC制冷或液氮制冷,大大降低探测器的暗噪声水平

针对特别弱的红外信号,信号处理部分可选配美国进口的锁相放大器和光学斩波器

两种专用系统可选,分别针对平面光学元件和球面光学元件光谱分析测试

系统可扩展升级测量平面光学元件不同入射角的反射和透射光谱

█ 专业优化设计的系统光路,杂散光小,通光效率高

█ 超大多功能样品室,便于操作,可选择液体、固体样品架;并配备透射专用比色皿

可选积分球附件,专门用于测试各种漫反射样品

软件自动化控制

系统扩展性好,方便客户购买基本配置后进行系统升级和功能扩展

 

产品参数Specifications

产品型号Model

LE-SP-ART Series

光源Light source

LEOPTICS? UV-VIS-IR Stabilized Light sourceOptional

光源功率Lamp Power

30W~1550W(Optional)

光谱测试范围Spectral Range

200nm~28um

光谱分辨率Spectral Resolution

0.03nm~10nm(Optional)

测量内容Measurement

透射、反射、吸收光谱(可选)

样品尺寸Sample Dimension

5mm~68mmOptional),特殊大小可定制

样品类型Sample Type

固体平面&薄膜或液体(标准),特殊样品可定制样品测试夹具

波长重复性Wavelength Repeatability

0.1nm

波长准确度Wavelength Accuracy

0.2nm

上一篇:没有了!

下一篇:没有了!

上一篇:热处理对高铬铸铁组织和性能的影响 下一篇:高温合金材料检测利器:手持光谱仪大显身手
热线电话 在线询价
提示

仪表网采购电话