LE-SP-SPA-ART系列变角度透射、反射和吸收光谱测试系统

Variable-angle Absorption,Reflection&Transmission Measurement System

【本系统为套商业化的全自动变角度吸收、反射和透射光谱测量系统】 

   我司理欧光电LEOPTICS?的LE-SP-SPA-ART系列变角度吸收、反射和透射光谱测量系统，具有高精度角度分辨能力，光谱范围范围覆盖了紫外、可见、近红外和中远红外，包括200nm到28um范围，专门用于测试各种具有角度特性的材料、光学元件或色散元件在不同入射角、不同透射角和不同反射角度情况下的透射光谱和反射光谱；角度变化自动控制，自动校正。另外有测量发光材料空间角度分布、薄膜光学元件、生物样品、衍射光栅等的专用测试功能模块，可供选择。专门定制设计各种样品夹具，确保样品测试的准确性和便捷性。并且采用电脑软件自动控制，使用方便，测量稳定、准确、可靠。

本系统采用超大样品测试光路系统，透射光路或者全反射光路设计，灵活性强，预留扩展接口和扩展空间，可作为一台大型光谱测中心平台。我司有丰富的系统配件，可将该平台进行升级做其各种光谱测量。比如本系统可升级专门用于测试各种色散元件（比如：反射光栅、透射光栅、特种光栅等等）的衍射效率。还可升级做发射光谱测试，用于测量各种紫外、可见和红外的辐射源、光源、发光样品等的发射光谱。

产品功能和应用Applications

■ 本系统可用于测试各种具有角度特性的材料和光学元件在不同入射角、不同透射角度和不同反射角度的透射光谱和反射光谱；角度变化自动控制，自动校正

■应用于光与物质作用时，通过光信号不同角度不同波长的透射或反射吸收判断物质特性的领域

■ 本系统还可专门用于测试各种色散元件（比如：反射光栅、透射光栅、特种光栅等等）的衍射效率。测量光栅在不同入射角情况下的衍射效率，并可得到光栅在不同波长的衍射角度。光栅入射角度、衍射角度均可自由自动控制调整

■测试有角度特性的平面光学元件的变角度吸收、透射/反射光谱

■测试有角度特性的球面光学元件（凹面镜、凸面等）的变角度吸收、透射/反射光谱。

■ 测试各种衍射或漫反射样品的散射角度空间分布光谱；

■科研领域

■工业领域

■和刑侦领域

主要规格及特色Features&Benefits

■光谱范围：0.2um~28um(光谱范围可选，常用范围：200~900nm，200nm~1100nm，200nm~2500nm，1~5um，3-5um，8~14um,2~16um等)

■光谱分辩率：0.03nm~10nm （由所选波长范围确定）

■高精度角分辨：0.00125°

■测试系统高集成度，全自动化的测量

■ 角度变换自动化控制，角度自动校正

■ 样品角度0到360度可变化

■ 平行光入射，实现真正意义的角度分辨

■专业优化设计的系统光路，杂散光小，通光效率高

■超大多功能样品室，有效屏蔽杂散光，并且非常便于操作，可选择各种标准或定制液体、固体样品架；集成反射和透射双功能光谱测量

■光源采用德国OSRAM或日本Hamamatsu紫外、可见、近红外灯泡，美国中远红外发光模块

■光信号探测采用美国进口高灵敏度紫外、可见、红外探测器，并且可选择配套TEC制冷或液氮制冷，大大降低探测器的暗噪声水平，提高了系统探测灵敏度

■针对特别弱的紫外或红外光信号，信号处理部分可选配美国进口的锁相放大器和光学斩波器

■采用脉冲调制光测试，大大降低了杂散光和暗电流的影响，提高了系统信噪比

■专业系统测试软件自动化控制，使用方便，测量稳定、准确、可靠

■系统扩展性好，方便客户购买基本配置后进行系统升级和功能扩展，如下所示：

u  功能扩展1：测量色散元件（比如：反射光栅、透射光栅、特种光栅等等）的衍射效率和衍射角度分布                      

u  功能扩展2：测量发光材料空间角度分布

u  功能扩展3：测量各种紫外、可见和红外的辐射源、光源、发光样品等的发射光谱

u  功能扩展4：测量各种紫外、可见和红外的辐射源、光源、发光样品等的辐射强度空间角度分布

u  功能扩展5：测量球面、凹面或者非球面光学元件或者器件的不同入射角反射、透射光谱

u  功能扩展6：测量凹面光栅的衍射角分布和衍射效率

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