MPR200-PAB-ZP15  α β表面污染测量仪        

Multi-probe Radiation Survey Meter

MPR200 多探头辐射测量仪是一款便携式的放射性探测仪，通过主机和不同探头的组合，可对各种放射性场合的 α、β辐射进行测量，适用于核电站、其他核设施、环境保护、工业探伤、辐照加工等领域。

主机采用OLED界面显示，电容式触摸按键，操作方便。（也可选配：外接ZnS闪烁体、塑料闪烁体、双闪烁体、双GM管、五GM管、NaI晶体等多种类型、不同面积（尺寸）的探头）外接探头内置存储芯片，可保存探头编号、探头类型、测量模式、数据存储模式、刻度因子、报警阈值等多种参数信息，主机自动读取参数，转换测量界面。

仪器配套有PC管理软件，可对主机和探头进行参数设置、数据读取、输出转存及打印。

仪器配有密封仪器箱，防尘、防水、防震，携带方便。

    MPR200-PAB-ZP15 表面污染测量仪由MPR200主机+PAB-ZP15 α、β表面污染探头组成，可对α、β辐射进行测量。

 α β表面污染测量仪 表面沾污仪  

MPR200主机

功能特点

自动识别各种外接探头

OLED显示，无需背光

电容式触摸按键

USB数据通讯

PC数据管理软件

可存储12000条数据，方便查询管理

技术指标

α β表面污染测量仪 表面沾污仪

w  探测器：ZnS(Ag) + 塑料闪烁体

w  测量范围：0.01 cps ~ 9999 cps

0.001 Bq/cm² ~ 999.99 kBq/cm²

w  有效面积：15 cm²

w  本底计数：α，≤ 0.01 cps；β，≤ 2 cps

w  探测下限：α，≤0.037 Bq/cm² (²³⁹Pu，10 s，置信度95%，环境本底0.2 μGy/h)

β，≤0.4 Bq/cm²(⁹⁰Sr-⁹⁰Y，10 s，置信度95%，环境本底0.2 μGy/h)

w  探测效率：α，≥ 30%（²³⁹Pu，2π，距探测器5 mm，保护网格遮挡率<30%）

β，≥30%（⁹⁰Sr-⁹⁰Y，2π，距探测器10 mm，保护网格遮挡率<30%）

w  尺寸：60 mm × 60 mm × 190 mm（不含手柄）

w  重量：400 g

α β表面污染测量仪 表面沾污仪