MIKRON M315 X-HT中温大面源

Mikron M315X-HT黑体校准源满足红外焦平面阵列检测器，热成像仪，和FLIR系统在投影场景和现场应用测试在需要更高的温度的严格参数。

M315X-HT黑体源通过精密加热元件电阻加热，以提供均匀的温度分布。两件式系统由控制器模块和用于发射源的单独外壳组成。

发射器源温度控制由精密数字PID控制器执行，该控制器安装在7英寸（180毫米）高19英寸机架安装式机箱中。 

方形大面积源，校准红外热像仪系统、辐射计、热流量计、光谱分析仪，通过精确的热电模块冷却或者加热。中温型号。

MIKRON M315 X-HT中温大面源优势

从4 x 4 in到12 x 12 in的四种孔径中选择
校准并验证高温计，热成像仪等的输出信号。
实现高精度和可重复性
用精密数字PID控制器控制发射源温度
高发射率，具有稳定的稳定性和均匀性
带有精确加热元件的均匀温度分布
配有可追溯至NIST的校准证书
RS232（标准）或RS485串行通讯
稳定的RTD确保系统的*温度稳定性

(环境温度 +5) ... 600°C

加热及发射腔体形状:

热均匀面

辐射率：

有效辐射率= 0.9999, 波段： 1…1.07μm

有效辐射率=0.975, 波段：8…14 μm

(其他波段的辐射率温度校准表有效)

标准校准方法：

热辐射校准

发射面尺寸：

M 315 X4-HT: 101 x 101 mm

M 315 X6-HT: 152 x 152 mm

M 315 X8-HT: 204 x 204 mm

M 315 X12-HT: 305 x 305 mm 

温度精度:

1°C (<100°C) 至1.3°C ( 400°C) 

平均升温时间：

60 分钟 (至 600°C)

尺寸 [mm] (HxD) / 重量:

X4: 280 x 254 x 280 to X12: 510 x 660 x 585

控制模块: 178 x 483 x 593