MIKRON M315 X黑体源(X4, X6, X8, X12)

方形大面积源，校准红外热像仪系统、辐射计、热流量计、光谱分析仪。

(环境温度+5) ... 400°C

加热及发射腔体形状:

热均匀面

辐射率：

有效辐射率= 0.9999，波段：8...14 μm

(其他波段的辐射率温度校准表有效)

标准校准方法：

热辐射校准

发射面尺寸：

M 315 X4: 101 x 101 mm

M 315 X6: 152 x 152 mm

M 315 X8: 204 x 204 mm

M 315 X12: 305 x 305 mm

温度精度:

1°C (<100°C) 至1.3°C (400°C)

平均升温时间：

60 分钟 (至 400°C)

尺寸 [mm] (HxD) / 重量:

X4: 280 x 254 x 280 至 X12: 510 x 660 x 585

控制模块: 78 x 483 x 593

MIKRON M315 X黑体源

Mikron  M315X系列黑体校准源满足红外焦平面阵列检测器，热成像，和FLIR系统在投影场景和现场应用测试的严格参数。 

M315X系列校准源通过精密加热元件电阻加热，以提供均匀的温度分布。两件式系统由控制器模块和用于发射源的单独外壳组成。 两根连接电缆可将黑体源与控制器之间的距离分隔为3.6 m（12英尺）。

好处

满足红外焦平面阵列探测器，热成像和FLIR系统测试在投影场景和野外应用中的严格参数
实现高精度和高分辨率
确保温度分布均匀
用精密数字PID控制器控制发射源温度
保证您的校准质量

特征

出色的通用校准
大光圈
通过精密加热元件电阻加热
RS232（标准）或RS485（可选）串行通讯输出
高发射率和均匀性